[發明專利]電子裝置、效能分類系統與方法、電壓自動校正系統

有效

• 申請號: 201410375083.2
• 申請日: 2014-08-01
• 公開（公告）號: CN104459366B
• 公開（公告）日: 2017-10-10
• 發明（設計）人: 陳世豪;方勇勝
• 申請（專利權）人: 創意電子股份有限公司;臺灣積體電路制造股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司11006
• 代理人: 徐金國

1.一種用以計算一集成電路的效能的方法，其特征在于，包含：

將多個硬件效能監視器放置于多個集成電路中的每一者中，其中每一所述硬件效能監視器根據對應的所述集成電路的效能產生一數值；

根據所述硬件效能監視器產生的所述數值，提供一個效能函數，其中所述效能函數包含多個項目，且每一所述項目各自關聯于一權重；

根據所述集成電路中的多個第一集成電路計算所述項目的所述權重，其中所述多個第一集成電路的效能為已知；以及

根據所述效能函數計算所述集成電路中的多個第二集成電路的效能，其中所述效能函數與所述權重內建于所述第二集成電路中。

2.根據權利要求1所述的用以計算一集成電路的效能的方法，其特征在于，每一所述硬件效能監視器包含一環形振蕩器，用以產生一計數值，其中所述計數值指示所述環形振蕩器的一信號的頻率。

3.根據權利要求2所述的用以計算一集成電路的效能的方法，其特征在于，所述效能函數表示如下：

f(x)＝w₀+w₁₁x₁+w₁₂x₁²+w₂₁x₂+w₂₂x₂²+…+w_n1x_n+w_n2x_n²,

其中f(x)為所述效能函數，x₁,x₂,…,x_n為每一所述硬件效能監視器分別計數的計數值，w₀為一常數，且w₀,w₁₁,w₁₂,w₂₁,w₂₂,…,w_n1,w_n2為系數。

4.根據權利要求1所述的用以計算一集成電路的效能的方法，其特征在于，每一所述項目的所述權重經由所述集成電路中的所述多個第一集成電路與一機器學習方式而計算。

5.根據權利要求1所述的用以計算一集成電路的效能的方法，其特征在于，所述效能為所述集成電路的一操作頻率。

6.一種電子裝置，其特征在于，用于計算多個集成電路中的一者的效能，所述電子裝置包含：

多個硬件效能監視器，位于所述集成電路中，其中每一所述硬件效能監視器根據對應的所述集成電路的效能產生一數值；

一儲存單元，用以根據所述硬件效能監視器產生的所述數值以儲存一效能函數中的多個權重，所述效能函數包含多個項目，其中所述效能函數中的每一所述項目分別關聯于所述權重中的一對應者，且每一所述項目的所述權重是根據所述集成電路中的多個第一集成電路的效能所決定，所述多個第一集成電路的所述效能為已知；以及

一內建自我測試模塊，用以根據在所述集成電路中的所述硬件效能監視器產生的所述數值與所述儲存單元儲存的所述權重，獲得所述效能函數的一量值，借此計算所述集成電路中的一者的效能。

7.根據權利要求6所述的電子裝置，其特征在于，所述集成電路的效能為所述集成電路的一操作頻率。

8.根據權利要求7所述的電子裝置，其特征在于，還包含：

一聯合測試行動組連接端口，用以輸出所述集成電路的一操作頻率。

9.根據權利要求6所述的電子裝置，其特征在于，每一所述效能監視器包含一環形振蕩器，用以產生一計數值，其中所述計數值表示所述環形振蕩器的信號的頻率。