[發明專利]一種用于解釋和評價水平井測井參數的方法

有效

• 申請號: 201410370392.0
• 申請日: 2014-07-30
• 公開（公告）號: CN105317431B
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發明（設計）人: 吳海燕;李永杰;秦黎明;王衛;陸黃生;吳春萍;張元春
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油工程技術研究院
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 朱繪;張文娟

1.一種用于解釋和評價水平井測井參數的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

S101、利用水平井的導眼井或鄰近直井的測井曲線來建立地層模型，以基于直井的測井解釋規則來確定導眼井或臨近直井的目的層和標志層；

S102、利用鉆井參數來計算和展現水平井的井眼軌跡，基于所述鉆井參數將待解釋的水平井的測井曲線進行水平和垂向投影；

S103、將所建立的地層模型和預先獲得的地震剖面資料導入水平井中，基于確定的目的層或標志層來調整所述地層模型與所述地震剖面的水平段地震特征相匹配，以符合井眼軌跡與儲層的接觸關系響應特征；

S104、通過分析鄰井或導眼井的測井響應特征劃分出所述鄰井或導眼井的鉆遇地層界面，并以此為約束，分析所述水平段的測井響應特征是否發生明顯變化，如果是則將發生明顯變化的點識別為所述水平段的界面關鍵點；

S105、調整所述地層模型與實際測井曲線進行匹配，使得所述模型與實際的地質特征符合；

S106、模擬電阻率的響應特征，并與實際測量的雙感應電阻率進行對比判斷是否一致，如果不一致則返回步驟S105繼續調整所述地層模型直到得到與實際測量的雙感應電阻率一致的模擬電阻率，并基于最后得到的地層模型對測井參數進行解釋和評價。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括以下步驟：

S107、對電阻率進行基于地層界面及探測深度影響的校正，以獲取準地層真電阻率，并根據該真電阻率計算含水飽和度和含油飽和度。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法在執行所述步驟S107之前，還要執行以下步驟：

判斷電阻率響應變化是否超過一定限值；

如果超過，則進行各向異性條件下的電阻率的響應模擬；

設定垂向電阻率值，并與水平向電阻率同時擬合出一條電阻率曲線；

將該電阻率曲線與實測的電阻率值進行對比；

對比的結果如果不一致，則調整所述地層模型，如果一致，則表明目前的地層模型是可靠的。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述水平電阻率通過所述導眼井或者所述臨近直井的測井參數得到，所述垂向電阻率和所述水平向電阻率之間滿足以下關系：

其中，Rv和Rh分別表示垂向電阻率和水平向電阻率。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，采用下式計算含水飽和度：

A為與巖性有關的巖性系數；M為膠結指數；N為飽和度指數；Rw表示地層水電阻率；Por表示孔隙度；SWT表示含水飽和度；R_ZT表示準地層真電阻率。

6.如權利要求1-5中任一項所述的方法，其特征在于，在執行步驟S104中時，如果根據測井響應特征找到各個鉆遇地層一致，而地層模型明顯不同，則根據該區域的地震信息來綜合選取所述地層模型。

7.如權利要求1-5中任一項所述的方法，其特征在于，所述測井曲線包括自然伽馬曲線、聲波曲線、電阻率曲線。