[發(fā)明專利]一種用于解釋和評價水平井測井參數(shù)的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410370392.0
• 申請日: 2014-07-30
• 公開（公告）號: CN105317431B
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳海燕;李永杰;秦黎明;王衛(wèi);陸黃生;吳春萍;張元春
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油工程技術(shù)研究院
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京聿宏知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372
• 代理人: 朱繪;張文娟

1.一種用于解釋和評價水平井測井參數(shù)的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

S101、利用水平井的導(dǎo)眼井或鄰近直井的測井曲線來建立地層模型，以基于直井的測井解釋規(guī)則來確定導(dǎo)眼井或臨近直井的目的層和標(biāo)志層；

S102、利用鉆井參數(shù)來計算和展現(xiàn)水平井的井眼軌跡，基于所述鉆井參數(shù)將待解釋的水平井的測井曲線進(jìn)行水平和垂向投影；

S103、將所建立的地層模型和預(yù)先獲得的地震剖面資料導(dǎo)入水平井中，基于確定的目的層或標(biāo)志層來調(diào)整所述地層模型與所述地震剖面的水平段地震特征相匹配，以符合井眼軌跡與儲層的接觸關(guān)系響應(yīng)特征；

S104、通過分析鄰井或?qū)а劬臏y井響應(yīng)特征劃分出所述鄰井或?qū)а劬你@遇地層界面，并以此為約束，分析所述水平段的測井響應(yīng)特征是否發(fā)生明顯變化，如果是則將發(fā)生明顯變化的點識別為所述水平段的界面關(guān)鍵點；

S105、調(diào)整所述地層模型與實際測井曲線進(jìn)行匹配，使得所述模型與實際的地質(zhì)特征符合；

S106、模擬電阻率的響應(yīng)特征，并與實際測量的雙感應(yīng)電阻率進(jìn)行對比判斷是否一致，如果不一致則返回步驟S105繼續(xù)調(diào)整所述地層模型直到得到與實際測量的雙感應(yīng)電阻率一致的模擬電阻率，并基于最后得到的地層模型對測井參數(shù)進(jìn)行解釋和評價。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括以下步驟：

S107、對電阻率進(jìn)行基于地層界面及探測深度影響的校正，以獲取準(zhǔn)地層真電阻率，并根據(jù)該真電阻率計算含水飽和度和含油飽和度。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法在執(zhí)行所述步驟S107之前，還要執(zhí)行以下步驟：

判斷電阻率響應(yīng)變化是否超過一定限值；

如果超過，則進(jìn)行各向異性條件下的電阻率的響應(yīng)模擬；

設(shè)定垂向電阻率值，并與水平向電阻率同時擬合出一條電阻率曲線；

將該電阻率曲線與實測的電阻率值進(jìn)行對比；

對比的結(jié)果如果不一致，則調(diào)整所述地層模型，如果一致，則表明目前的地層模型是可靠的。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述水平電阻率通過所述導(dǎo)眼井或者所述臨近直井的測井參數(shù)得到，所述垂向電阻率和所述水平向電阻率之間滿足以下關(guān)系：

其中，Rv和Rh分別表示垂向電阻率和水平向電阻率。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，采用下式計算含水飽和度：

A為與巖性有關(guān)的巖性系數(shù)；M為膠結(jié)指數(shù)；N為飽和度指數(shù)；Rw表示地層水電阻率；Por表示孔隙度；SWT表示含水飽和度；R_ZT表示準(zhǔn)地層真電阻率。

6.如權(quán)利要求1-5中任一項所述的方法，其特征在于，在執(zhí)行步驟S104中時，如果根據(jù)測井響應(yīng)特征找到各個鉆遇地層一致，而地層模型明顯不同，則根據(jù)該區(qū)域的地震信息來綜合選取所述地層模型。

7.如權(quán)利要求1-5中任一項所述的方法，其特征在于，所述測井曲線包括自然伽馬曲線、聲波曲線、電阻率曲線。