[發明專利]一種用于解釋和評價水平井測井參數的方法

有效

• 申請號: 201410370392.0
• 申請日: 2014-07-30
• 公開（公告）號: CN105317431B
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發明（設計）人: 吳海燕;李永杰;秦黎明;王衛;陸黃生;吳春萍;張元春
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油工程技術研究院
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 朱繪;張文娟

本發明公開了一種用于解釋和評價水平井測井參數的方法，其包括：利用測井曲線建立地層模型；利用鉆井參數來計算和展現水平井的井眼軌跡，基于鉆井參數將測井曲線進行水平和垂向投影；將所建立的地層模型和地震剖面資料導入水平井中；通過分析測井響應特征劃分鉆遇地層界面，并以此為約束，分析測井響應特征是否發生明顯變化；調整地層模型與實際測井曲線進行匹配；模擬電阻率的響應特征。本發明采用以雙感應電阻率的正演模擬為基礎形成的水平井解釋評價技術，克服了傳統的單一的直井解釋方式缺陷。所形成的二維解釋方法更符合地質特征，能夠滿足勘探與開發對于水平井解釋新方法迫切需求，達到優化壓裂選層目的。

技術領域

本發明涉及石油測井工程技術，尤其涉及一種用于解釋和評價水平井測井參數的方法。

背景技術

目前，在石油鉆井技術領域中，針對水平井的測井解釋技術相對滯后，仍然采用直井簡單的解釋方法。即使部分人員采用二維解釋也只是水平井二維顯示，并未從水平井的測井響應機理上去分析與評價。然而，實際上水平井的測井響應不同于直井，受多種因素的影響，比如井眼軌跡、儲層頂底邊界、儲層內部薄層、儀器探測深度、局部構造等，這些因素導致水平井的解釋相對復雜。另外，僅僅采用直井的解釋方法也無法確定井眼軌跡與儲層位置及油水分布的關系，無法滿足石油工程的需求。

在測井領域中，通常認為正演是指已知地層模型和儀器結構參數，利用物理數學手段得到測井響應的過程；而反演作為電測井曲線環境校正的重要方法之一，是根據特定測井儀器的測井響應反算地層模型電性參數的過程。

發明內容

本發明針對現有技術的缺點，提出一種用于解釋和評價水平井測井參數的方法，其包括以下步驟：

S101、利用水平井的導眼井或鄰近直井的測井曲線來建立地層模型，以基于直井的測井解釋規則來確定導眼井或臨近直井的目的層和標志層；

S102、利用鉆井參數來計算和展現水平井的井眼軌跡，基于所述鉆井參數將待解釋的水平井的測井曲線進行水平和垂向投影；

S103、將所建立的地層模型和預先獲得的地震剖面資料導入水平井中，基于確定的目的層或標志層來調整所述地層模型與所述地震剖面的水平段地震特征相匹配，以符合井眼軌跡與儲層的接觸關系響應特征；

S104、通過分析鄰井或導眼井的測井響應特征劃分出所述鄰井或導眼井的鉆遇地層界面，并以此為約束，分析所述水平段的測井響應特征是否發生明顯變化，如果是則將發生明顯變化的點識別為所述水平段的界面關鍵點；

S105、調整所述地層模型與實際測井曲線進行匹配，使得所述模型與實際的地質特征符合；

S106、模擬電阻率的響應特征，并與實際測量的雙感應電阻率進行對比判斷是否一致，如果不一致則返回步驟S105繼續調整所述地層模型直到得到與實際測量的雙感應電阻率一致的模擬電阻率，并基于最后得到的地層模型對測井參數進行解釋和評價。

根據本發明的一個實施例，所述方法還包括以下步驟：

S107、對電阻率進行基于地層界面及探測深度影響的校正，以獲取準地層真電阻率，并根據該真電阻率計算含水飽和度和含油飽和度。

根據本發明的一個實施例，所述方法在執行所述步驟S107之前，還要執行以下步驟：

判斷電阻率響應變化是否超過一定限值；

如果超過，則進行各向異性條件下的電阻率的響應模擬；

設定垂向電阻率值，并與水平向電阻率同時擬合出一條電阻率曲線；

將該電阻率曲線與實測的電阻率值進行對比；

對比的結果如果不一致，則調整所述地層模型，如果一致，則表明目前的地層模型是可靠的。