[發明專利]一種制備氮化物單晶體材料的工業化裝置及方法有效
申請號: | 201410363568.X | 申請日: | 2014-07-29 |
公開(公告)號: | CN104131351B | 公開(公告)日: | 2017-12-15 |
發明(設計)人: | 劉南柳;陳蛟;鄭小平;張國義 | 申請(專利權)人: | 北京大學東莞光電研究院 |
主分類號: | C30B29/40 | 分類號: | C30B29/40;C30B19/06 |
代理公司: | 東莞市冠誠知識產權代理有限公司44272 | 代理人: | 楊正坤 |
地址: | 523000 廣東省東莞市松山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 一種 制備 氮化物 單晶體 材料 工業化 裝置 方法 | ||
1.一種制備氮化物單晶體材料的工業化裝置,其特征在于:包括反應釜體(1)、N2輸入通道(51)、N2輸入通道閥門(61)、坩堝(9)和N2供應裝置,所述N2通過N2輸入通道(51)和N2輸入通道閥門(61)通入所述反應釜體(1)內的反應室N2區域(2),所述反應室N2區域(2)通過所述N2供應裝置與所述坩堝(9)內的反應室Ga-Na溶液區域(3)連通;所述N2供應裝置包括N2循環通道(52)、N2循環通道閥門(62)、N2循環通道高位分閥門(63)、N2循環通道低位分閥門(64)、高位加壓裝置(71)、低位加壓裝置(72)、高位供N2終端口(81)和低位供N2終端口(82);所述N2循環通道(52)的一端與所述反應室N2區域(2)連通,所述N2循環通道(52)的另一端通過所述高位供N2終端口(81)、低位供N終端口(82)與所述反應室Ga-Na溶液區域(3)連通;所述N2循環通道高位分閥門(63)、高位加壓裝置(71)控制所述高位供N2終端口(81)的流通,所述N2循環通道低位分閥門(64)、低位加壓裝置(72)控制所述低位供N2終端口(82)的流通。
2.根據權利要求1所述的一種制備氮化物單晶體材料的工業化裝置,其特征在于:所述N2供應裝置為內置式N2供應裝置或者外置式N2供應裝置。
3.根據權利要求1所述的一種制備氮化物單晶體材料的工業化裝置,其特征在于:所述坩堝(9)內設置有晶種模版(4),所述晶種模版(4)水平設置或者垂直設置。
4.根據權利要求3所述的一種制備氮化物單晶體材料的工業化裝置,其特征在于:所述晶種模版(4)的數量為多個,所述晶種模版(4)的位置呈高低分布。
5.根據權利要求1所述的一種制備氮化物單晶體材料的工業化裝置,其特征在于:所述高位供N2終端口(81)和低位供N2終端口(82)設置于所述坩堝(9)的底部或側壁。
6.根據權利要求1所述的一種制備氮化物單晶體材料的工業化裝置,其特征在于:所述高位加壓裝置(71)、低位加壓裝置(72)、N2循環通道(52)的材質為具有抗氧化、耐應力和耐高溫的材料。
7.根據權利要求1所述的一種制備氮化物單晶體材料的工業化裝置,其特征在于:所述N2循環通道閥門(62)、N2循環通道高位分閥門(63)、N2循環通道低位分閥門(64)、高位供N2終端口(81)與低位供N2終端口(82)的材質為具有抗氧化、耐高溫和抗硫化的材料。
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