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[發(fā)明專利]TFT背板的制作方法及TFT背板結構在審

專利信息
申請?zhí)枺?/td> 201410351330.5 申請日: 2014-07-22
公開(公告)號: CN104091785A 公開(公告)日: 2014-10-08
發(fā)明(設計)人: 李文輝;王宜凡;蘇智昱;呂曉文 申請(專利權)人: 深圳市華星光電技術有限公司
主分類號: H01L21/77 分類號: H01L21/77;H01L27/12
代理公司: 深圳市德力知識產(chǎn)權代理事務所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 廣東*** 國省代碼: 廣東;44
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摘要:
搜索關鍵詞: tft 背板 制作方法 結構
【說明書】:

技術領域

發(fā)明涉及顯示技術領域,尤其涉及一種TFT背板的制作方法及TFT背板結構。

背景技術

平面顯示裝置具有機身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點,得到了廣泛的應用。現(xiàn)有的平面顯示裝置主要包括液晶顯示裝置(Liquid?Crystal?Display,LCD)及有機電致發(fā)光顯示裝置(Organic?Light?Emitting?Display,OLED)。

OLED由于同時具備自發(fā)光,不需背光源、對比度高、厚度薄、視角廣、反應速度快、可用于撓曲性面板、使用溫度范圍廣、構造及制程較簡單等優(yōu)異特性,被認為是下一代平面顯示裝置的新興應用技術。

薄膜晶體管(TFT)是平面顯示裝置的重要組成部分。由于TFT可形成在玻璃基板或塑料基板上,所以它們通常作為開光裝置和驅動裝置用在諸如LCD、OLED、電泳顯示裝置(EPD)上。

氧化物半導體TFT技術是當前的熱門技術。由于氧化物半導體具有較高的電子遷移率,而且相比低溫多晶硅(LTPS),氧化物半導體制程簡單,與非晶硅制程相容性較高,可以應用于LCD、OLED、柔性顯示(Flexible)等領域,且與高世代生產(chǎn)線兼容,可應用于大中小尺寸顯示,具有良好的應用發(fā)展前景。

現(xiàn)有的較為成熟的氧化物半導體TFT背板的結構是具有刻蝕阻擋層的結構。如圖1至圖10所示,現(xiàn)有的氧化物半導體TFT背板的制作方法,包括如下步驟:

步驟1、提供一基板100,在該基板100上成膜第一金屬層,通過一道光刻制程圖案化該第一金屬層,形成位于基板100一側的柵極200與位于基板100另一側的第一金屬電極M1;

步驟2、在所述柵極200、第一金屬電極M1與基板100上成膜柵極絕緣層300,通過一道光刻制程圖案化該柵極絕緣層300,形成柵極絕緣層過孔310,以露出部分柵極200;

步驟3、在所述柵極絕緣層300上成膜并通過一道光刻制程圖案化,形成島狀的氧化物半導體層400;

步驟4、在所述氧化物半導體層400與柵極絕緣層300上成膜刻蝕阻擋層500,并通過一道光刻制程圖案化該刻蝕阻擋層500,形成數(shù)個刻蝕阻擋層過孔510,以露出部分氧化物半導體層400;

步驟5、在所述刻蝕阻擋層500上成膜第二金屬層,通過一道光刻制程圖案化該第二金屬層,形成位于所述基板100一側的源/漏極600與位于基板100另一側的第二金屬電極M2,所述源/漏極600填充數(shù)個刻蝕阻擋層過孔510與氧化物半導體層400連接,所述源/漏極600填充柵極絕緣層過孔310與柵極200連接;

所述第一金屬電極M1、第二金屬電極M2、及夾在第一、第二金屬電極M1、M2之間的部分柵極絕緣層300與部分刻蝕阻擋層500形成存儲電容C;

步驟6、在源/漏極600與第二金屬電極M2上形成鈍化保護層700,并通過一道光刻制程使其圖案化;

步驟7、在所述鈍化保護層700上形成平坦層800,并通過一道光刻制程使其圖案化;

步驟8、在所述平坦層800上形成像素電極層900,并通過一道光刻制程使其圖案化;

步驟9、在所述像素電極層900與平坦層800上形成像素定義層1000,并通過一道光刻制程使其圖案化;

步驟10、在所述像素定義層1000上形成隔離柱1100。

該現(xiàn)有的氧化物半導體TFT背板的制作方法存在一定的問題,主要表現(xiàn)在三個方面:一、氧化物半導體TFT背板的制作共需要十道光刻制程,其中刻蝕阻擋層500的制作需要一道完整的光刻制程(包括成膜、黃光、蝕刻、剝離等制程工序),造成工序流程較長,生產(chǎn)效率較低,生產(chǎn)成本增加,而工序越多,累積的良率問題也越凸顯;二、柵極絕緣層300、氧化物半導體層400與刻蝕阻擋層500非連續(xù)成膜,氧化物半導體層400與其它兩層的界面容易受到蝕刻液、剝離液的污染,存在造成TFT性能下降的風險;三、存儲電容C由第一金屬電極M1、第二金屬電極M2、夾在第一、第二金屬電極M1、M2之間的部分柵極絕緣層300與部分刻蝕阻擋層500形成,由于多了刻蝕阻擋層500的厚度,造成存儲電容C需要較大的面積,引起開口率下降。

因此,需要對該方法進行改進,以消除其存在的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種TFT背板的制作方法,能夠減少光刻制程,縮短工序流程,提高生產(chǎn)效率,降低生產(chǎn)成本,提升良率;避免半導體層與柵極絕緣層、刻蝕阻擋層的界面受到污染,保證TFT的性能;并使得存儲電容面積減小,提高開口率。

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