[發(fā)明專利]TFT背板的制作方法及TFT背板結構在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410351330.5 | 申請日: | 2014-07-22 |
| 公開(公告)號: | CN104091785A | 公開(公告)日: | 2014-10-08 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李文輝;王宜凡;蘇智昱;呂曉文 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/77 | 分類號: | H01L21/77;H01L27/12 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識產(chǎn)權代理事務所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | tft 背板 制作方法 結構 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及顯示技術領域,尤其涉及一種TFT背板的制作方法及TFT背板結構。
背景技術
平面顯示裝置具有機身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點,得到了廣泛的應用。現(xiàn)有的平面顯示裝置主要包括液晶顯示裝置(Liquid?Crystal?Display,LCD)及有機電致發(fā)光顯示裝置(Organic?Light?Emitting?Display,OLED)。
OLED由于同時具備自發(fā)光,不需背光源、對比度高、厚度薄、視角廣、反應速度快、可用于撓曲性面板、使用溫度范圍廣、構造及制程較簡單等優(yōu)異特性,被認為是下一代平面顯示裝置的新興應用技術。
薄膜晶體管(TFT)是平面顯示裝置的重要組成部分。由于TFT可形成在玻璃基板或塑料基板上,所以它們通常作為開光裝置和驅動裝置用在諸如LCD、OLED、電泳顯示裝置(EPD)上。
氧化物半導體TFT技術是當前的熱門技術。由于氧化物半導體具有較高的電子遷移率,而且相比低溫多晶硅(LTPS),氧化物半導體制程簡單,與非晶硅制程相容性較高,可以應用于LCD、OLED、柔性顯示(Flexible)等領域,且與高世代生產(chǎn)線兼容,可應用于大中小尺寸顯示,具有良好的應用發(fā)展前景。
現(xiàn)有的較為成熟的氧化物半導體TFT背板的結構是具有刻蝕阻擋層的結構。如圖1至圖10所示,現(xiàn)有的氧化物半導體TFT背板的制作方法,包括如下步驟:
步驟1、提供一基板100,在該基板100上成膜第一金屬層,通過一道光刻制程圖案化該第一金屬層,形成位于基板100一側的柵極200與位于基板100另一側的第一金屬電極M1;
步驟2、在所述柵極200、第一金屬電極M1與基板100上成膜柵極絕緣層300,通過一道光刻制程圖案化該柵極絕緣層300,形成柵極絕緣層過孔310,以露出部分柵極200;
步驟3、在所述柵極絕緣層300上成膜并通過一道光刻制程圖案化,形成島狀的氧化物半導體層400;
步驟4、在所述氧化物半導體層400與柵極絕緣層300上成膜刻蝕阻擋層500,并通過一道光刻制程圖案化該刻蝕阻擋層500,形成數(shù)個刻蝕阻擋層過孔510,以露出部分氧化物半導體層400;
步驟5、在所述刻蝕阻擋層500上成膜第二金屬層,通過一道光刻制程圖案化該第二金屬層,形成位于所述基板100一側的源/漏極600與位于基板100另一側的第二金屬電極M2,所述源/漏極600填充數(shù)個刻蝕阻擋層過孔510與氧化物半導體層400連接,所述源/漏極600填充柵極絕緣層過孔310與柵極200連接;
所述第一金屬電極M1、第二金屬電極M2、及夾在第一、第二金屬電極M1、M2之間的部分柵極絕緣層300與部分刻蝕阻擋層500形成存儲電容C;
步驟6、在源/漏極600與第二金屬電極M2上形成鈍化保護層700,并通過一道光刻制程使其圖案化;
步驟7、在所述鈍化保護層700上形成平坦層800,并通過一道光刻制程使其圖案化;
步驟8、在所述平坦層800上形成像素電極層900,并通過一道光刻制程使其圖案化;
步驟9、在所述像素電極層900與平坦層800上形成像素定義層1000,并通過一道光刻制程使其圖案化;
步驟10、在所述像素定義層1000上形成隔離柱1100。
該現(xiàn)有的氧化物半導體TFT背板的制作方法存在一定的問題,主要表現(xiàn)在三個方面:一、氧化物半導體TFT背板的制作共需要十道光刻制程,其中刻蝕阻擋層500的制作需要一道完整的光刻制程(包括成膜、黃光、蝕刻、剝離等制程工序),造成工序流程較長,生產(chǎn)效率較低,生產(chǎn)成本增加,而工序越多,累積的良率問題也越凸顯;二、柵極絕緣層300、氧化物半導體層400與刻蝕阻擋層500非連續(xù)成膜,氧化物半導體層400與其它兩層的界面容易受到蝕刻液、剝離液的污染,存在造成TFT性能下降的風險;三、存儲電容C由第一金屬電極M1、第二金屬電極M2、夾在第一、第二金屬電極M1、M2之間的部分柵極絕緣層300與部分刻蝕阻擋層500形成,由于多了刻蝕阻擋層500的厚度,造成存儲電容C需要較大的面積,引起開口率下降。
因此,需要對該方法進行改進,以消除其存在的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種TFT背板的制作方法,能夠減少光刻制程,縮短工序流程,提高生產(chǎn)效率,降低生產(chǎn)成本,提升良率;避免半導體層與柵極絕緣層、刻蝕阻擋層的界面受到污染,保證TFT的性能;并使得存儲電容面積減小,提高開口率。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





