[發(fā)明專利]一種視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410347299.8 | 申請(qǐng)日: | 2014-07-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104142335A | 公開(公告)日: | 2014-11-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王詠真 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶穎泉標(biāo)準(zhǔn)件有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01B11/00;B07C5/34 |
| 代理公司: | 重慶市前沿專利事務(wù)所(普通合伙) 50211 | 代理人: | 方洪 |
| 地址: | 402761 重*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 視覺 檢測(cè) 機(jī)構(gòu) | ||
1.一種視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu),具有機(jī)臺(tái)(5),其特征在于:在所述機(jī)臺(tái)(5)頂部的一端安裝振動(dòng)盤(10),機(jī)臺(tái)(5)頂部的另一端設(shè)置分度轉(zhuǎn)盤,該分度轉(zhuǎn)盤由機(jī)臺(tái)(5)上安裝的步進(jìn)電機(jī)(6)帶動(dòng)旋轉(zhuǎn),并且分度轉(zhuǎn)盤由動(dòng)盤(1)和定盤(2)組成,動(dòng)盤(1)和定盤(2)為直徑相等的圓盤結(jié)構(gòu),動(dòng)盤(1)位于定盤(2)的正上方,兩者相貼合固定,在所述動(dòng)盤(1)的邊緣開設(shè)有按圓周均勻分布的第一缺口(1a),兩相鄰第一缺口(1a)之間形成第一凸片(1b),定盤(2)的邊緣開設(shè)有按圓周均勻分布的第二缺口(2a),兩相鄰第二缺口(2a)之間形成第二凸片(2b),所述第二缺口(2a)與第一缺口(1a)一一對(duì)應(yīng),且第二缺口(2a)與第一缺口(1a)部分重疊,形成卡口(3),在每塊第二凸片(2b)的頂部均設(shè)置有墊塊(4),該墊塊(4)按圓周均勻分布,所述墊塊(4)位于第一缺口(1a)中,并緊挨對(duì)應(yīng)的卡口(3),墊塊(4)的頂面與第一凸片(1b)的頂面平齊;
在所述振動(dòng)盤(10)與分度轉(zhuǎn)盤之間設(shè)有輸送零件的導(dǎo)軌(7),該導(dǎo)軌(7)進(jìn)口端高出口端低傾斜設(shè)置,導(dǎo)軌(7)的進(jìn)口端與振動(dòng)盤(10)上的出件口相接,導(dǎo)軌(7)的出口端靠近所述分度轉(zhuǎn)盤,所述導(dǎo)軌(7)由并排布置的固定輸送軌(7a)和可調(diào)輸送軌(7b)構(gòu)成,所述固定輸送軌(7a)通過第一支撐架(8)支撐在機(jī)臺(tái)(5)上,可調(diào)輸送軌(7b)通過第二支撐架(9)支撐在機(jī)臺(tái)(5)上,第二支撐架(9)的底部通過螺栓與機(jī)臺(tái)(5)相固定,且第二支撐架(9)底部供螺栓通過的孔為條形孔;
所述固定輸送軌(7a)和可調(diào)輸送軌(7b)的出口端均向上彎折,形成有水平段(7c),且導(dǎo)軌(7)出口端的側(cè)邊設(shè)有吹氣裝置(11),所述吹氣裝置(11)上接有能夠?qū)⒘慵膶?dǎo)軌(7)吹向分度轉(zhuǎn)盤的吹氣管。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu),其特征在于:所述卡口(3)從外向內(nèi)寬度逐漸減小。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu),其特征在于:所述動(dòng)盤(1)頂面的中部一體形成有上小下大的臺(tái)階狀凸臺(tái)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu),其特征在于:所述定盤(2)底面的中部一體形成有上大下小的錐臺(tái)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu),其特征在于:所述動(dòng)盤(1)與定盤(2)之間通過兩顆按圓周均勻分布的緊固螺栓連接,動(dòng)盤(1)上供緊固螺栓穿過的孔為圓弧形條孔(1c),該條孔(1c)的圓心在動(dòng)盤(1)的軸心線上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視覺檢測(cè)機(jī)構(gòu),其特征在于:所述墊塊(4)為長(zhǎng)方塊,并通過焊接與定盤(2)相固定。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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