[發明專利]一種顆粒粒度儀

無效

• 申請號: 201410346734.5
• 申請日: 2014-07-21
• 公開（公告）號: CN104089858A
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發明（設計）人: 蔡小舒;周騖
• 申請（專利權）人: 上海理工大學
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 吳寶根

1.一種顆粒粒度儀，其特征在于，該儀器采用面陣圖像傳感器（1）作為測量元件，在所述面陣圖像傳感器下布置顯微物鏡（2），所述顯微物鏡（2）的焦面上置有樣品池（3），樣品池（3）下置有兩個光源，其中一個是采用發光二極管LED或微型燈泡的透射光源（4），所述的透射光源（4）布置在樣品池（3）和顯微物鏡（2）的軸線方向上，另一個是采用激光器的散射光源（5）以5-90度的θ角入射到樣品池（3）上；當測量微米級以上顆粒時，位于樣品池（3）下的透射光源（4）發出照明光，照亮樣品池（3）中的被測顆粒樣品（6），顆粒圖像被顯微物鏡（2）放大成像在像平面上，放大的圖像被面陣圖像傳感器（1）接收后獲得的圖像信號送到計算機進行圖像處理，得到顆粒粒度分布和形狀因子參數；當測量納米顆粒時，關閉透射光源（4），打開散射光源（5），散射光源（5）發出的激光照射到被測納米顆粒樣品（6），納米顆粒因布朗運動產生的動態光散射信號通過顯微物鏡被面陣圖像傳感器（1）接收，獲得的信號送到計算機進行數據處理，得到顆粒粒度分布和形狀因子參數。

2.根據權利要求1所述的顆粒粒度儀，其特征在于，所述的樣品池（3）為比色皿或載波片。

3.根據權利要求1所述的顆粒粒度儀，其特征在于，所述的透射光源（4）布置在與樣品池（3）和顯微物鏡（2）的光軸成90度角，在顯微物鏡（2）的光軸和透射光源（4）發出的光線垂直相交處置有全反棱鏡或反射鏡（8）。

4.根據權利要求1所述的顆粒粒度儀，其特征在于，所述的面陣圖像傳感器（1）為CCD或CMOS器件。

5.根據權利要求1所述的顆粒粒度儀，其特征在于，所述的散射光源（5）所用的激光器為半導體激光器LD或光纖激光器。