[發(fā)明專利]一種F數(shù)為0.6斐索激光干涉儀標準參考鏡無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410345392.5 | 申請日: | 2014-07-18 |
| 公開(公告)號: | CN104142130A | 公開(公告)日: | 2014-11-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曲藝;蘇東奇;苗二龍;隋永新;楊懷江 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24;G01B9/02;G02B27/09 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務(wù)所 22210 | 代理人: | 張偉 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 0.6 激光 干涉儀 標準 參考 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光學鏡頭設(shè)計領(lǐng)域,特別是一種F數(shù)為0.6菲索激光干涉儀標準參考鏡光學結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
斐索激光干涉儀主要用于元件的表面面形測量,標準參考鏡是菲索激光干涉儀的重要組成部分,它將斐索激光干涉儀輸出的平面波轉(zhuǎn)化為一個高精度的球面波,用于球面元件的表面面形測量。
如圖1所示,斐索激光干涉儀標準參考鏡1將斐索激光干涉儀輸出的平面波轉(zhuǎn)變?yōu)榍蛐尾ǎ瑫r將輸出的激光分離為參考光束和測量光束兩部分。標準參考鏡最后一個面稱為參考面2,一般是一個消球差的曲面。參考面2大約將4%的激光反射回干涉儀,形成參考波前。剩余的激光作為測量波前,照射至待測元件3。測量光線垂直穿過參考面2后,照射到待測元件3表面,經(jīng)過元件3表面反射后,原路返回至參考面2,并再次垂直穿過參考面2,與參考波前共同被斐索激光干涉儀內(nèi)部探測器接收。由于測量波前攜帶了待測元件表面的面形信息,因此,通過數(shù)據(jù)處理,可以得到元件的表面面形。
標準參考鏡F數(shù)定義為標準參考鏡工作焦長除以標準參考鏡的入瞳口徑。球面元件R數(shù)定義為球面半徑除以實際的通光孔徑,半球形的元件其R數(shù)為0.5。利用斐索激光干涉儀測量元件表面面形時,只有標準參考鏡F數(shù)小于待測量元件R數(shù),才能將待測量元件的通光口徑測全。由于小F數(shù)標準參考鏡,彎曲光線的角度更大,因此設(shè)計難度也大于大F數(shù)標準參考鏡。
圖2給出一款F數(shù)為0.75的標準參考鏡光學結(jié)構(gòu)設(shè)計,該結(jié)構(gòu)包括孔徑光闌4、像差平衡與光焦度組分5和參考面2三部分。
美國的ZYGO公司已有商業(yè)化的標準參考鏡出售,其所出售產(chǎn)品的F數(shù)范圍從0.65至11,入射光束口徑范圍為25mm至6英寸。日本的MGKK系列標準參考鏡的F數(shù)范圍從0.75至45,入射光束口徑范圍為100mm與150mm。我國內(nèi)也有標準參考鏡產(chǎn)品出售,其參數(shù)基本與上述國外公司產(chǎn)品參數(shù)相同,F(xiàn)數(shù)范圍從0.75至11,口徑范圍為25mm至6英寸。綜上所述,標準參考鏡F數(shù)低于0.65還沒有該產(chǎn)品。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中小R數(shù)的球形元件面形檢測難的問題,本發(fā)明為提出一種F數(shù)0.6斐索激光干涉儀標準參考鏡光學結(jié)構(gòu),通過增加擴束組分和光焦度組分,使參考鏡的F下降到0.6,滿足小R數(shù)的球形元件面形檢測的要求。
本發(fā)明解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案如下:
一種F數(shù)0.6斐索激光干涉儀標準參考鏡,該參考鏡包括光闌、像差平衡組分、光焦度組分和參考面,還包括:擴束組分;干涉儀發(fā)出激光,通過光闌濾過口徑過大的部份,由擴束組分將光束的口徑擴大,經(jīng)過像差平衡組分和光焦度組分后來到參考面,一部分光經(jīng)由參考面反射,返回到干涉儀;另一部分通過參考面到達待測元件,經(jīng)由待測元件反射,將帶有待測元件表面的光返回干涉儀;其中像差平衡組分平衡標準參考鏡的像差,光焦度組分確定標準參考鏡的光焦度。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明為一款F數(shù)0.6的標準參考鏡光學結(jié)構(gòu)設(shè)計,可以滿足4英寸至12英寸不同入射口徑菲索激光干涉儀的使用要求,有效地擴展了小R數(shù)元件的面形檢測能力。
附圖說明
圖1是元件表面面形測量原理圖。
圖2是F數(shù)為0.75標準參考鏡光學結(jié)構(gòu)設(shè)計圖。
圖3是本發(fā)明F數(shù)為0.6標準參考鏡光學結(jié)構(gòu)設(shè)計圖。
圖中,1、標準參考鏡,2、參考面,3、待測量元件,4、孔徑光闌,5、像差平衡與光焦度組分,6、像差平衡組分,7、光焦度組分和8、擴束組分。
具體實施例
以下結(jié)合附圖3對本發(fā)明的具體實施方式作詳細說明。
由圖3所示,一種F數(shù)0.6斐索激光干涉儀標準參考鏡,該參考鏡包括孔徑光闌4、像差平衡組分6、光焦度組分7和參考面2,還包括:擴束組分8;干涉儀發(fā)出激光,通過孔徑光闌4濾過口徑過大的部份,由擴束組分8將光束的口徑擴大,經(jīng)過像差平衡組分6和光焦度組分7后來到參考面2,一部分光經(jīng)由參考面2反射,返回到干涉儀;另一部分通過參考面2到達待測元件,經(jīng)由待測元件反射,將帶有待測元件表面的光返回干涉儀;其中像差平衡組分6平衡標準參考鏡的像差,光焦度組分7確定標準參考鏡的光焦度。
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