[發明專利]金屬圓柱工件表觀缺陷自動光學檢測方法

在審

• 申請號: 201410334921.1
• 申請日: 2014-07-15
• 公開（公告）號: CN104156913A
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發明（設計）人: 劉霖;張靜;劉娟秀;何崗;謝煜;杜曉輝;袁陽;楊先明;葉玉堂;劉永
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 電子科技大學專利中心 51203
• 代理人: 張楊

1.金屬圓柱工件表觀缺陷自動光學檢測方法，該方法包括：

步驟1：使用線陣CCD采集到金屬圓柱工件表面展開圖像，并對圖像進行灰度處理；

步驟2：對步驟1得到的展開圖像進行局部二元模式處理；

步驟3：對步驟2的圖像處理結果采用局部圖像方差強度的方法，判斷出缺陷位置。

2.如權利要求1所述的金屬圓柱工件表觀缺陷自動光學檢測方法，其特征在于步驟2的具體步驟為：

步驟2.1：確定局部二值模式的采樣半徑；

步驟2.2：選取步驟1得到圖像中的一個像素g_c，以步驟2.1的采樣半徑收集該像素周圍各像素灰度信息g_i(i＝0,1,…,P-1)，其中i為選取像素周圍的P個像素的編號；

步驟2.3：對像素g_c賦值為T，T＝t(S(g₀-g_c),S(g₁-g_c)...,S(g_P-1-g_c))，

其中：S(x)=1x≥00x<0,]]>

t為LBP的編碼方式，LBP定義在圓環領域具有旋轉不變性；

步驟2.4：采用與步驟2.2～步驟2.3相同的方法對步驟1得到的圖像的其它像素進行賦值。

3.如權利要求1所述的金屬圓柱工件表觀缺陷自動光學檢測方法，其特征在于步驟3的具體步驟為：

步驟3.1：將步驟2得到的局部二值模式圖像的標準差Z,并將該圖像分為若干塊；

步驟3.2：計算出各塊圖像的標準差Z_l，均值V_l，其中l為各塊圖像的編號；

步驟3.3：計算出各塊圖像的分割閾值threshold=zl+vlzl>zzl-vlzl<z;]]>

步驟3.4：將各塊圖像的像素與該塊圖像的分割閾值比較，大于閾值賦值為255，小于閾值賦值為0，得到二值圖像，圖像中灰度值為255的白色位置即為缺陷位置。