[發明專利]一種基于AOI的子彈表觀缺陷檢測系統的圖像二值化分割方法

在審

• 申請號: 201410325460.1
• 申請日: 2014-07-09
• 公開（公告）號: CN104112134A
• 公開（公告）日: 2014-10-22
• 發明（設計）人: 呂坤;尹志強;楊雷;趙澤東;陳仕隆
• 申請（專利權）人: 寧波摩視光電科技有限公司
• 主分類號: G06K9/38
• 分類號: G06K9/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于AOI的子彈表觀缺陷檢測系統的圖像二值化分割方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)通過AOI系統獲得子彈表觀的原始灰度圖像f(x,y)；

(2)在原始灰度圖像f(x,y)中按便于區分的要求取一個點的灰度值T作為閥值；

(3)將所有像素點的灰度值與閥值T比較，將大于或等于閥值T的像素點的灰度值重新設為1，將小于閥值T的像素點的灰度值重新設為0，獲得二值化后的圖像

2.根據權利要求1所述的一種基于AOI的子彈表觀缺陷檢測系統的圖像二值化分割方法，其特征在于，所述步驟(2)中確定灰度值T的具體方法如下：

(2a)設N為整幅圖像中像素總個數，整個圖像的灰度值范圍從0到L，當整個圖像中灰度級為i的像素個數為n_i時，則相應的幾率為p_i＝n_i/NL,i＝0,1,2,…,L-1且

(2b)假設閾值為T，把圖像按照閾值T分為兩部分：C₀表示灰度值小于閾值T的全部像素點，C₁表示灰度值大于閾值T的全部像素點，根據整體的灰度分布幾率，整體像素的均值為則C₀和C₁的均值為μ0=Σi=0Tipi/w0]]>和μ1=Σi=T+1L-1ipi/w1,]]>其中w0=Σi=0Tpi,w1=Σi=T+1L-1pi=1-w0;]]>

(2c)由上述推導得u_T＝w₀μ₀+w₁μ₁，方差σB2=w0(μ0-μT)2+w1(μ1-μT)2=w0(μ02+μT2)+μT2(w0+w1)-2(w0μ0+w1μ1)μT=w0μ02+w1μ12-μT2=w0μ02+w1μ12-(w0μ0+w1μ)2=w0μ02(1-w0)+w1μ12(1-w1)-2w0w1μ0μ1=w0w1(μ0-μ1)2;]]>

(2d)在[0,L-1]的灰度值范圍內調整T的值，當方差取得最大值時，T為最佳的閾值。

3.根據權利要求1或2所述的一種基于AOI的子彈表觀缺陷檢測系統的圖像二值化分割方法，其特征在于，所述步驟(2)中取閥值T前，先對原始灰度圖像進行去除噪聲或/和對比度增強處理。