[發明專利]一種基于AOI的子彈表觀缺陷檢測系統的圖像二值化分割方法

在審

• 申請號: 201410325460.1
• 申請日: 2014-07-09
• 公開（公告）號: CN104112134A
• 公開（公告）日: 2014-10-22
• 發明（設計）人: 呂坤;尹志強;楊雷;趙澤東;陳仕隆
• 申請（專利權）人: 寧波摩視光電科技有限公司
• 主分類號: G06K9/38
• 分類號: G06K9/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及AOI系統的圖像處理技術，特別是涉及一種基于AOI的子彈表觀缺陷檢測系統的圖像二值化分割方法。

背景技術

AOI(Automatic?Optic?Inspection)，又稱為自動光學檢測，是以運動機器視覺作為基礎技術，作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點，提高光學影像檢測系統精度和速度而誕生的一門技術。

數字圖像是指被稱作像素的小塊區域組成的二維矩陣。將物理圖像行列劃分后，每個小塊區域成為像素。每個像素包括兩個屬性：圖像位置和灰度值。對于單色圖像，即灰度圖像而言，每個像素的灰度值用一個范圍在0到255之間的數值來表示。其中0代表黑、255代表白。

一副圖像可定義為一個二維函數f(x,y)，這里x和y是空間坐標，而在任何一對空間坐標(x,y)上的幅值f稱為該點圖像的強度或灰度。當x，y和幅值f為優先的離散數值時，稱該圖像為數字圖像。

本發明中，通過AOI系統的光學成像模塊和圖像采集模塊，可以得到子彈表觀的初始圖片，但是如何使機器從子彈的初始圖片上分辨出子彈表觀缺陷成為困擾發明人的一大難題。經過發明人對子彈圖片的仔細分析、研究，發現在由該AOI系統獲得的圖像中，除了正常子彈表面就是缺陷區域，相對比較單一，建立在以往經驗的基礎上，發明人認為可以將子彈表觀圖像進行二值化分割，使缺陷區域更為突出，再結合對缺陷區域的特征匹配，便可使機器分辨識別出子彈表觀缺陷。因此，本發明提出一種基于此的圖像二值化分割方法。

發明內容

為了解決機器識別子彈表觀缺陷難的問題，本發明提供一種基于AOI的子彈表觀缺陷檢測系統的圖像二值化分割方法，對由AOI系統獲得的子彈表面初始圖片進行處理，以便于后續的缺陷匹配識別。

為了實現上述目的，本發明采用的技術方案如下：

一種基于AOI的子彈表觀缺陷檢測系統的圖像二值化分割方法，包括如下步驟：

(1)通過AOI系統獲得子彈表觀的原始灰度圖像f(x,y)；

(2)在原始灰度圖像f(x,y)中按便于區分的要求取一個點的灰度值T作為閥值；

(3)將所有像素點的灰度值與閥值T比較，將大于或等于閥值T的像素點的灰度值重新設為1，將小于閥值T的像素點的灰度值重新設為0，獲得二值化后的圖像

進一步地，所述步驟(2)中確定灰度值T的具體方法如下：

(2a)設N為整幅圖像中像素總個數，整個圖像的灰度值范圍從0到L，當整個圖像中灰度級為i的像素個數為n_i時，則相應的幾率為p_i＝n_i/NL,i＝0,1,2,…,L-1且