[發明專利]半導體封裝及其方法有效
| 申請號: | 201410325271.4 | 申請日: | 2014-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN104851815B | 公開(公告)日: | 2017-12-19 |
| 發明(設計)人: | 周世文 | 申請(專利權)人: | 南茂科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60;H01L23/495 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司31100 | 代理人: | 徐潔晶 |
| 地址: | 中國臺灣新竹縣*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 封裝 及其 方法 | ||
1.一種半導體封裝,其特征在于,包括:
一封裝載體,具有至少一導體部件;
一芯片,具有一有源表面及對應的一芯片背面,該芯片以該背面貼附于該封裝載體上,其中該有源表面具有至少一接點,該接點以一導線與該導體部件電性連接;
一薄膜,配置于該有源表面上,且包覆部分該導線;
一第一屏蔽金屬板,配置于該薄膜上;
一第二屏蔽金屬板配置于該芯片與該封裝載體之間;以及
一封裝材料,包覆該芯片、該導線、至少部分該封裝載體、該薄膜以及至少部分該第一屏蔽金屬板與該第二屏蔽金屬板;
其中,該第一屏蔽金屬板與該第二屏蔽金屬板之面積皆大于該芯片,且該第一屏蔽金屬板與該第二屏蔽金屬板均完全覆蓋該芯片;該第一屏蔽金屬板與該薄膜邊緣切齊。
2.如權利要求1所述的半導體封裝,其特征在于,該第一屏蔽金屬板的材質包括鐵鎳合金。
3.如權利要求1所述的半導體封裝,其特征在于,該第二屏蔽金屬板的材質包括鐵鎳合金。
4.如權利要求1所述的半導體封裝,其特征在于,該封裝載體包括一導線架,且該導體部件為一引腳。
5.如權利要求1所述的半導體封裝,其特征在于,該封裝載體包括一電路板基板,且該導體部件為一線路。
6.如權利要求1所述的半導體封裝,其特征在于,該芯片包括一磁電阻式隨機存取存儲器芯片。
7.一種半導體封裝方法,其特征在于,包括:
提供一封裝載體,該封裝載體具有至少一導體部件;
提供一芯片,該芯片具有一有源表面及對應的一芯片背面,將該芯片以該背面貼附于該封裝載體上,其中該有源表面具有至少一接點;
以一導線電性連接該接點與該導體部件;
提供一第一屏蔽金屬板,且該第一屏蔽金屬板上具有一薄膜,其中,該薄膜預先形成于該第一屏蔽金屬板后,再一同切割該第一屏蔽金屬板,將切割后的該第一屏蔽金屬板覆蓋于該有源表面上,使得該薄膜覆蓋該有源表面,且包覆部分該導線;
貼附一第二屏蔽金屬板于該封裝載體上,且該芯片是以該背面貼附于該第二屏蔽金屬板上;以及
提供一封裝材料,包覆該芯片、該導線、至少部分該封裝載體、該薄膜以及至少部分該第一屏蔽金屬板與該第二屏蔽金屬板;
其中,該第一屏蔽金屬板與該第二屏蔽金屬板之面積皆大于該芯片,且該第一屏蔽金屬板與該第二屏蔽金屬板均完全覆蓋該芯片。
8.如權利要求7所述的半導體封裝方法,其特征在于,該第一屏蔽金屬板的材質包括鐵鎳合金。
9.如權利要求7所述的半導體封裝方法,其特征在于,該第二屏蔽金屬板的材質包括鐵鎳合金。
10.如權利要求7所述的半導體封裝方法,其特征在于,該芯片包括一磁電阻式隨機存取存儲器芯片。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南茂科技股份有限公司,未經南茂科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410325271.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:離子注入過程中的溫度監控方法
- 下一篇:去除虛擬柵極殘留的方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





