[發明專利]一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法在審
| 申請號： | 201410324342.9 | 申請日： | 2014-07-09 |
| 公開（公告）號： | CN104112123A | 公開（公告）日： | 2014-10-22 |
| 發明（設計）人： | 楊雷;尹志強;趙澤東;陳仕隆;呂坤 | 申請（專利權）人： | 寧波摩視光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G06K9/00 | 分類號： | G06K9/00;G06K9/46;G01N21/88 |
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| 地址： | 315100 浙江省*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 子彈 表觀 缺陷 檢測 aoi 系統 特征 提取 識別 方法 | ||
技術領域
本發明涉及圖像特征提取識別領域，特別是涉及一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法。
背景技術
AOI(Automatic?Optic?Inspection)，又稱為自動光學檢測，是以運動機器視覺作為基礎技術，作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點，提高光學影像檢測系統精度和速度而誕生的一門技術。
現有技術中未見到有將AOI系統針對子彈表觀缺陷檢測進行的應用，雖然用光學方式獲得被測物體圖形，并采用傳感器獲取被測物照明后的數字圖像，在對圖像進行處理后進行比較、分析和判斷是AOI技術的基本原理，但在針對子彈表觀缺陷檢測時如何提取缺陷特征并予以識別在技術方面仍是一片空白。
發明內容
為了解決上述現有技術中的問題，本發明提供一種設計合理、檢測全面的用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法。
為了實現上述目的，本發明采用的技術方案如下：
一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法，包括如下步驟：
(1)通過AOI系統獲得子彈表面圖像，并以此獲得連通域標記圖像；
(2)根據子彈表觀缺陷檢測的期望預設待檢的已知缺陷種類，并獲取判定每種缺陷所需的圖像特征；
(3)將所有所需的圖像特征與連通域標記圖像的參數進行關聯，轉化為相應的計算通式，并預設圖像特征的標準閥值；
(4)對連通域標記圖像上的每個連通域進行圖像特征計算，將結果與標準閥值對比，確定缺陷的類型。
其中，所述步驟(1)中采用區域增長法或標記算法獲得連通域標記圖像。
進一步地，所述步驟(2)中的所有圖像特征至少包括連通域的面積、重心、外接矩陣、缺陷長軸、缺陷傾角、缺陷長寬比和灰度值。
更具體的，所述步驟(3)中圖像特征對應的計算通式分別如下：
在連通域標記為i的缺陷區域面積其中(x,y)表示像素點的坐標，Ri為被標記為i的所有像素點的集合；
缺陷區域的重心中，橫坐標均值為縱坐標均值為
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