[發明專利]一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法

在審

• 申請號: 201410324342.9
• 申請日: 2014-07-09
• 公開（公告）號: CN104112123A
• 公開（公告）日: 2014-10-22
• 發明（設計）人: 楊雷;尹志強;趙澤東;陳仕隆;呂坤
• 申請（專利權）人: 寧波摩視光電科技有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/46;G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
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1.一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)通過AOI系統獲得子彈表面圖像，并以此獲得連通域標記圖像；

(2)根據子彈表觀缺陷檢測的期望預設待檢的已知缺陷種類，并獲取判定每種缺陷所需的圖像特征；

(3)將所有所需的圖像特征與連通域標記圖像的參數進行關聯，轉化為相應的計算通式，并預設圖像特征的標準閥值；

(4)對連通域標記圖像上的每個連通域進行圖像特征計算，將結果與標準閥值對比，確定缺陷的類型。

2.根據權利要求1所述的一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法，其特征在于，所述步驟(1)中采用區域增長法或標記算法獲得連通域標記圖像。

3.根據權利要求1或2所述的一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法，其特征在于，所述步驟(2)中的所有圖像特征至少包括連通域的面積、重心、外接矩陣、缺陷長軸、缺陷傾角、缺陷長寬比和灰度值。

4.根據權利要求3所述的一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法，其特征在于，所述步驟(3)中圖像特征對應的計算通式分別如下：

在連通域標記為i的缺陷區域面積其中(x,y)表示像素點的坐標，R_i為被標記為i的所有像素點的集合；

缺陷區域的重心中，橫坐標均值為縱坐標均值為y‾i=1SiΣ(x,y)∈Riy;]]>

缺陷區域的外接矩陣的左上角坐標(x_a,y_a)為xai=min(xi)yai=min(yi)(xi,yi)∈Ri,]]>該外界矩陣的長L_a和寬W_a為La=max(yi)-min(yi)Wa=max(xi)-min(xi)(xi,yi)∈Ri;]]>

缺陷長軸的值其中(x₁,y₁)和(x₂,y₂)是一條過重心的直線與缺陷區域邊緣相交的兩點；

缺陷傾角即為缺陷長軸方向與x軸方向的夾角其中(x_c,y_c)為長軸與x軸的交點；

缺陷長寬比其中A為缺陷長軸的長度，B為短軸的長度，所謂短軸是指垂直于缺陷長軸且過重心的直線與缺陷區域邊緣相交兩點間的長度；

最大灰度值和最小灰度值umaxi=max(f(xi,yi))umini=min(f(xi,yi))(xi,yi)∈Ri,]]>平均灰度值μ‾i=Σ(xi,yi)∈Rif(xi,yi),]]>灰度的標準差σi2=Σ(xi,yi)∈Ri(f(xi,yi)-μ‾i)2.]]>

5.根據權利要求4所述的一種用于子彈表觀缺陷檢測的AOI系統的缺陷特征提取與識別方法，其特征在于，所述缺陷的類型及其標準閥值如下：

(I)道線：長寬比大于30:1，外接矩形長寬比不小于30:1，傾斜角度在-5°和5°之間，平均灰度在100到180之間；

(II)口部卡傷：長寬比在1到5之間，最小灰度值小于10，以重心為中心半徑小于300的圓形區域內存在至少一個區域，且該區域的長寬比在0.2到5之間，最大灰度值大于150；

(III)劃痕：長寬比在5到20之間，且平均灰度值小于40或者大于100；

(IV)穿孔：長寬比在1到2之間，面積大于400，最低灰度值為0，且灰度值為0的像素個數大于10；

(V)裂痕：長寬比在5到30之間，最低灰度值為0，且灰度值為0的像素個數大于10個，以重心為中心半徑小于300的圓形區域內存在至少一個區域，且該區域的長寬比在5到30之間，最大灰度值等于255，最高灰度值為255的像素點個數大于10；

(VI)銹蝕：長寬比在0.2到5之間，且平均灰度值在30到55之間；

(VII)油漆涂錯：面積大于10000，平均灰度值大于50，或者最小灰度值小于5的面積大于1000，顏色較暗；

(VIII)露鋼：面積大于10000，平均灰度值小于100，或者最小灰度值小于20的面積大于1000；

(IX)亮點：面積小于200，平均灰度值要大于200。