[發明專利]偏光板的檢查方法無效
| 申請號： | 201410323167.1 | 申請日： | 2014-07-08 |
| 公開（公告）號： | CN104280407A | 公開（公告）日： | 2015-01-14 |
| 發明（設計）人： | 裴星俊;樸宰賢;許宰寧 | 申請（專利權）人： | 東友精細化工有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/958 | 分類號： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人： | 楊黎峰;石磊 |
| 地址： | 韓國全羅*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 偏光 檢查 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種偏光板的檢查方法，所述方法是從位于偏光板一側的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的相反側的攝影器材獲取的圖像來檢測缺陷，在所述偏光板的至少一個面上接合有脫模薄膜，其中，
在滿足下述數式1的情況下，則判斷為偏光板是合格品；
[數式1]
A/B≦0.2
在上式中，A是在所述獲取的圖像中檢測到的黑點所占的像素數，B是在所述偏光板的某一側配置了偏光濾光片、以使其吸收軸與所述偏光板正交之后，在獲取的圖像中的所述黑點的位置處檢測到的亮點所占的像素數。
2.根據權利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，所述黑點在灰度128的基準光量下的灰度是15～128。
3.根據權利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，所述亮點在灰度0的基準光量下的灰度是15～255。
4.根據權利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，所述A為1～10000。
5.根據權利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，所述B為1～100000。
6.根據權利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，在所述A/B為0.1以下時，則判斷為偏光板是合格品。
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