[發明專利]偏光板的檢查方法

無效

• 申請號: 201410323167.1
• 申請日: 2014-07-08
• 公開（公告）號: CN104280407A
• 公開（公告）日: 2015-01-14
• 發明（設計）人: 裴星俊;樸宰賢;許宰寧
• 申請（專利權）人: 東友精細化工有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 楊黎峰;石磊

技術領域

本發明涉及偏光板的檢查方法。

背景技術

在液晶顯示器中，會使用各種光學功能性薄膜。作為所述光學功能性薄膜，已知有薄膜狀的偏光板。在所述偏光板的一個面上形成粘合層，所述粘合層用于將偏光板接合在液晶顯示器的玻璃基板等上。在接合于玻璃基板等之前，用脫模薄膜覆蓋所述粘合層。

在這種偏光板的制造工序中，有時會產生如下的各種缺陷：在薄膜表面或薄膜內部附著異物、或者產生污染和瑕疵等。因此，在偏光板的制造工序中要進行缺陷檢查。缺陷檢查是從光源對層壓薄膜照射光，用照相機拍攝偏光板的透射光或反射光，并根據由該拍攝得到的圖像而進行檢查。

在日本特開2007－213016號公報中，公開了一種缺陷檢查裝置，所述缺陷檢查裝置是在使偏光濾光片介于偏光板與照相機之間的狀態下，拍攝偏光板的透射光。將偏光濾光片配置成，其偏光軸與偏光板的偏光軸正交、即成為所謂的交叉尼科爾狀態。由此，在偏光板不存在缺陷時，由于偏光板的透射光的振動方向與偏光濾光片的偏光軸正交，所以，所述透射光被偏光濾光片遮斷。因此，通過透射光而得到的圖像(透射圖像)的整個面都是黑色圖像。對此，在偏光板存在缺陷時，透過了所述缺陷部分的透射光的偏光狀態發生變化，由此使所述缺陷部分的透射光透過偏光板。因此，與透射圖像的缺陷部分相對應的部分的亮度變高。由此，能夠檢查偏光板是否存在缺陷。

附著在偏光板上的脫模薄膜，在液晶顯示器的制造工序中，最終會從偏光板上剝離。因此，即使脫模薄膜本身存在缺陷，但只要粘合層的保護功能沒有受到損傷，則說起來也沒有必要將所述脫模薄膜的缺陷判斷是缺陷。但是，在以往的檢查方法中，還無法識別偏光板的缺陷和脫模薄膜的缺陷。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2007－213016號公報

發明內容

發明所要解決的課題

本發明的目的是提供偏光板的檢查方法，所述方法能夠以高準確度且簡便地判斷偏光板是否不良。

用于解決課題的方法

1.一種偏光板的檢查方法，所述方法是從位于偏光板一側的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的相反側的攝影器材獲取的圖像來檢測缺陷，在所述偏光板的至少一個面上接合有脫模薄膜，其中，在滿足下述數式1的情況下，則判斷為偏光板是合格品。

[數式1]

A/B≦0.2

在上式中，A是在所述獲取的圖像中檢測到的黑點所占的像素數，B是在所述偏光板的某一側配置了偏光濾光片、以使其吸收軸與所述偏光板正交之后，在獲取的圖像中的所述黑點的位置處檢測到的亮點所占的像素數。

2.根據所述項目1的偏光板的檢查方法，其中，所述黑點在灰度(gray?level)128的基準光量下的灰度是15～128。

3.根據所述項目1的偏光板的檢查方法，其中，所述亮點在灰度(gray?level)0的基準光量下的灰度是15～255。

4.根據所述項目1的偏光板的檢查方法，其中，所述A為1～10000。

5.根據所述項目1的偏光板的檢查方法，其中，所述B為1～100000。

6.根據所述項目1的偏光板的檢查方法，其中，在所述A/B為0.1以下時，則判斷為偏光板是合格品。

發明效果

本發明的偏光板的檢查方法，能夠減少雖然偏光板是合格品、但卻由于脫模薄膜的不良而被判斷為不良品的幾率，因具有高準確度的特性而能夠提高生產率。

本發明的偏光板的檢查方法能夠簡便地識別出偏光板的不良和脫模薄膜的缺陷。

附圖說明

圖1是概略性地表示本發明的偏光板的檢查方法(白色模式)的一個具體例子的圖。

圖2是概略性地表示本發明的偏光板的檢查方法(黑色模式)的一個具體例子的圖。

圖3是表示雖然偏光板本身是合格品、但在接合了不良的脫模薄膜情況下的黑點缺陷以及亮點缺陷的圖。

圖4是表示在本發明的一個具體例子中的、所獲取的圖像中的黑點缺陷的圖。

具體實施方式

本發明涉及偏光板的檢查方法，所述方法是從位于偏光板一側的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的相反側的攝影器材獲取的圖像來檢測缺陷，在所述偏光板的至少一個面上接合有脫模薄膜，其中，在滿足數式1的情況下，可判斷為偏光板是合格品，從而能夠識別偏光板的不良和脫模薄膜的不良，能夠減少雖然偏光板是合格品但卻被判斷為不良品的幾率，因具有高準確度的特性而能夠提高生產率。