[發(fā)明專利]非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備、具有其的存儲(chǔ)器系統(tǒng)及其讀取方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410301698.0 | 申請(qǐng)日: | 2014-06-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104252880B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 南尚完;樸起臺(tái);樸賢郁;李栽均 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G11C16/06 | 分類號(hào): | G11C16/06;G11C16/28 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 金玉潔 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 韓國(guó);KR |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 非易失性存儲(chǔ)器 設(shè)備 具有 存儲(chǔ)器 系統(tǒng) 及其 讀取 方法 | ||
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本申請(qǐng)要求2013年6月27日在韓國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)局遞交的10-2013-0074576號(hào)韓國(guó)專利申請(qǐng)和2014年4月1日在美國(guó)專利商標(biāo)局遞交的14/242332號(hào)美國(guó)專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán),這里通過(guò)引用將它們的公開(kāi)內(nèi)容全部并入。
技術(shù)領(lǐng)域
發(fā)明構(gòu)思涉及非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備、包括該非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的存儲(chǔ)器系統(tǒng)以及該存儲(chǔ)器系統(tǒng)的讀取方法。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體存儲(chǔ)器設(shè)備可以是易失性的或非易失性的。非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器設(shè)備即使在未被加電時(shí)也可保持存儲(chǔ)在其中的數(shù)據(jù)。非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備可以是永久的或者可再編程的。非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備可用于計(jì)算機(jī)、航空電子、電信和消費(fèi)性電子產(chǎn)業(yè)中的很多種應(yīng)用中的用戶數(shù)據(jù)、程序和微代碼存儲(chǔ)。
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明構(gòu)思的示范性實(shí)施例提供了一種讀取非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的方法,包括:向非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的被選字線施加讀取電壓;向非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的未被選字線施加讀取通過(guò)(pass)電壓;感測(cè)連接到被選字線的存儲(chǔ)單元的狀態(tài);以及在感測(cè)之后向被選字線施加讀取通過(guò)電壓。
該方法還包括釋放被選字線和未被選字線的讀取通過(guò)電壓。
讀取電壓包括第一電壓和第二電壓,并且第二電壓具有在第一電壓和讀取通過(guò)電壓之間的電平。
在向被選字線施加讀取通過(guò)電壓的同時(shí),布置在被選字線與非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的串選擇線之間的未被選字線的電壓開(kāi)始被釋放。
在向被選字線施加讀取通過(guò)電壓之后,布置在被選字線與非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的地選擇線之間的未被選字線的電壓開(kāi)始被釋放。
布置在被選字線與非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的串選擇線之間的未被選字線包括第一字線組和第二字線組,并且第一字線組的電壓和第二字線組的電壓被順序地釋放。
第一字線組的電壓和第二字線組的電壓彼此不同。
該方法還包括釋放非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的被選串選擇線或被選地選擇線的電壓。
該方法還包括:在感測(cè)之后向非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的未被選串選擇線施加讀取通過(guò)電壓;以及釋放未被選串選擇線的讀取通過(guò)電壓。
該方法還包括:在感測(cè)之前向非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的未被選串選擇線施加讀取通過(guò)電壓;以及釋放未被選串選擇線的讀取通過(guò)電壓。
該方法還包括:在感測(cè)之前向被選字線施加讀取通過(guò)電壓;以及在感測(cè)之前釋放被選字線的讀取通過(guò)電壓。
發(fā)明構(gòu)思的示范性實(shí)施例提供了一種讀取非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的方法,包括:向非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的被選字線施加讀取電壓;向非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的未被選字線施加讀取通過(guò)電壓;感測(cè)連接到被選字線的存儲(chǔ)單元的狀態(tài);以及在感測(cè)之后向被選字線施加接通電壓。
向未被選字線施加多個(gè)不同的讀取通過(guò)電壓。
該方法還包括釋放未被選字線和被選字線的電壓。
未被選字線的電壓被順序地釋放。
發(fā)明構(gòu)思的示范性實(shí)施例提供了一種讀取非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的方法,包括:向非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的被選字線施加讀取電壓;向非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的未被選字線施加讀取通過(guò)電壓;感測(cè)連接到被選字線的存儲(chǔ)單元的狀態(tài);以及在感測(cè)之后并且在向未被選字線施加讀取通過(guò)電壓的同時(shí)向被選字線施加接通電壓,其中,在向被選字線施加接通電壓的同時(shí),布置在被選字線與非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的串選擇線之間的未被選字線的電壓開(kāi)始被釋放。
根據(jù)非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的健康信息向被選字線施加接通電壓。
健康信息包括存儲(chǔ)單元的劣化的水平、編程/擦除循環(huán)信息、耗損平衡信息或者由差錯(cuò)檢驗(yàn)和糾正檢測(cè)到的差錯(cuò)的數(shù)目。
當(dāng)被讀取請(qǐng)求的存儲(chǔ)塊的編程/擦除循環(huán)值大于預(yù)定值時(shí),向被選字線施加接通電壓。
未被選字線被排列在多個(gè)分區(qū)中,并且分區(qū)的電壓被從靠近串選擇線的分區(qū)到靠近非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的地選擇線的分區(qū)順序地釋放。
發(fā)明構(gòu)思的示范性實(shí)施例提供了一種存儲(chǔ)器系統(tǒng),包括:存儲(chǔ)器控制器,被配置為輸出免干擾讀取模式信息;以及非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備,被配置為對(duì)連接到被選字線的存儲(chǔ)單元編程,對(duì)連接到被選字線的存儲(chǔ)單元執(zhí)行驗(yàn)證讀取操作,并且響應(yīng)于免干擾讀取模式信息,在讀取通過(guò)電壓被施加到未被選字線的同時(shí)向被選字線施加接通電壓。
存儲(chǔ)器控制器在被讀取請(qǐng)求的存儲(chǔ)塊的編程/擦除循環(huán)值大于預(yù)定值時(shí)生成免干擾讀取模式信息。
字線在襯底與位線之間堆疊在彼此之上。
非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備是垂直NAND閃速存儲(chǔ)器。
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