[發(fā)明專利]小波中值近紅外光譜去噪方法和裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410293139.X | 申請日: | 2014-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN104020136A | 公開(公告)日: | 2014-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙健;劉永福;何國田;徐澤宇;林遠(yuǎn)長;朱曉強(qiáng);何驥鳴;吳姣嬌;何瑞英;石珍 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院重慶綠色智能技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | G01N21/359 | 分類號: | G01N21/359 |
| 代理公司: | 成都賽恩斯知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51212 | 代理人: | 張帆;肖國華 |
| 地址: | 400714 *** | 國省代碼: | 重慶;85 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 中值 紅外 光譜 方法 裝置 | ||
1.一種小波中值近紅外光譜去噪方法,其特征在于,包括:
步驟1,對光譜信號進(jìn)行小波變換,從而得到各層的小波系數(shù);
步驟2,根據(jù)設(shè)定的上閾值和下閾值對近紅外光譜進(jìn)行小波閾值去噪;
步驟3,將經(jīng)過去噪后的小波系數(shù)根據(jù)小波逆變換進(jìn)行重構(gòu);
步驟4,對重構(gòu)后的光譜進(jìn)行極值中值濾波,從而得到去噪后的光譜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟2包括:
步驟21,將大于所述上閾值的小波系數(shù)保留,小于所述下閾值的小波系數(shù)置零。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述步驟2還包括:
步驟22,判斷所述上閾值和下閾值之間的小波系數(shù)的鄰域是否存在大于所述上閾值的小波系數(shù),如果有,則判斷該小波系數(shù)為有用信號的小波系數(shù),并保留;否則判斷該小波系數(shù)為噪聲的小波系數(shù),并置零。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟4包括:
步驟41,根據(jù)光譜數(shù)據(jù)點是否為其鄰域的極大或極小值點、及該光譜數(shù)據(jù)點的方差判斷該光譜數(shù)據(jù)點是否為脈沖噪聲點;
步驟42,對信號點集的光譜保留,對脈沖噪聲點集的光譜進(jìn)行中值濾波。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述步驟41具體包括:
(1)當(dāng)min(W[xi])<xi<max(W[xi])時,
xi∈S
(2)當(dāng)min(W[xi])=xi或xi=max(W[xi])
其中,S為信號點集,N為脈沖噪聲點集,var(xi)是以xi為中心的窗口內(nèi)光譜數(shù)據(jù)的方差,var(xi-1)、var(xi+1)是xi左右相鄰窗口內(nèi)光譜數(shù)據(jù)的方差,W[Xi]是以xi為中心的窗口內(nèi)的小波系數(shù),min(W[xi])是W[xi]中的最小值,max(W[xi])是W[xi]中的最大值。
6.一種小波中值近紅外光譜去噪裝置,其特征在于,包括:
變換模塊,用于對光譜信號進(jìn)行小波變換,從而得到各層的小波系數(shù);
閾值去噪模塊,用于根據(jù)設(shè)定的上閾值和下閾值對近紅外光譜進(jìn)行小波閾值去噪;
重構(gòu)模塊,用于將經(jīng)過去噪后的小波系數(shù)根據(jù)小波逆變換進(jìn)行重構(gòu);
濾波模塊,用于對重構(gòu)后的光譜進(jìn)行極值中值濾波,從而得到去噪后的光譜。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述閾值去噪模塊包括:
第一閾值去噪模塊,用于將大于所述上閾值的小波系數(shù)保留,小于所述下閾值的小波系數(shù)置零。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其特征在于,所述閾值去噪模塊還包括:
第二閾值去噪模塊,用于判斷所述上閾值和下閾值之間的小波系數(shù)的鄰域是否存在大于所述上閾值的小波系數(shù),如果有,則判斷該小波系數(shù)為有用信號的小波系數(shù),并保留;否則判斷該小波系數(shù)為噪聲的小波系數(shù),并置零。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述濾波模塊包括:
第一波濾模塊,用于根據(jù)光譜數(shù)據(jù)點是否為其鄰域的極大或極小值點、及該光譜數(shù)據(jù)點的方差判斷該光譜數(shù)據(jù)點是否為脈沖噪聲點;
第二波濾模塊,用于對信號點集的光譜保留,對脈沖噪聲點集的光譜進(jìn)行中值濾波。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





