[發(fā)明專利]一種原位多功能光電器件探針測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410286899.8
• 申請日: 2014-06-25
• 公開（公告）號: CN104090222A
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發(fā)明（設計）人: 陳潤鋒;宋超;林誠;黃維
• 申請（專利權(quán)）人: 南京郵電大學
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/073;H02S50/10
• 代理公司: 南京經(jīng)緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 楊楠

技術領域

本發(fā)明涉及一種原位多功能光電器件探針測試裝置。

背景技術

目前，各種各樣的光電器件被廣泛用于人們的日常生活中，而每種光電器件的研究和開發(fā)都需要對其性能進行反復測試，從而優(yōu)化其結(jié)構(gòu)、評估其性能穩(wěn)定性。實驗室傳統(tǒng)的測試方法是把光電器件放置于手套箱或空氣中手動逐點測量，以有機發(fā)光二極管(OLED)的測試為例，一般需要測三組參數(shù)：發(fā)光點的電流電壓曲線、亮度和光譜。有機發(fā)光二極管在實驗室的測試法包括如下：

用夾子夾在有機發(fā)光二極管器件某個發(fā)光點的正負極上，夾好后固定在固定托上，通過電流電壓源給器件加一系列電壓，測得這個發(fā)光點的電流電壓曲線；同時通過亮度色度計(PR655)對準發(fā)光點聚焦來測得每個電壓下的光譜和亮度；

測完一個點后，把有機發(fā)光二極管器件取下來，用夾子夾在有機發(fā)光二極管器件的其它發(fā)光點的正負極上，依次重復（1）的操作，直到所有點都測完。

該方法存在以下不足：

①測量時光電器件暴露于空氣中，當光電器件對水氣和氧氣敏感時，光電器件性能測試的重復性不好，如果在手套箱或封裝后測試，操作步驟繁雜，成本較高；

②由于光電器件的電極一般較薄，而測試時需人工用夾子夾住光電器件的電極，因此，常常因人工操作不當損傷電極，得不到準確的測試結(jié)果；

③測試時，需手工操作，逐點測量，操作復雜，效率較低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種基于全新設計結(jié)構(gòu)，能夠?qū)崿F(xiàn)密封環(huán)境下，通過探針觸碰方式，針對光電器件實現(xiàn)快速、簡便和自動化測試的原位多功能光電器件探針測試裝置。

本發(fā)明為了解決上述技術問題采用以下技術方案：本發(fā)明設計了一種原位多功能光電器件探針測試裝置，包括密封測試腔體、樣品臺、探針陣列裝置、接線槽、信號采集/發(fā)射裝置、光電測試儀器、第三電控旋轉(zhuǎn)升降裝置和第三控制器；其中，密封測試腔體上設有密封門，樣品臺與第三電控旋轉(zhuǎn)升降裝置相連設置在密封測試腔體內(nèi)，第三控制器位于密封測試腔體的外部，第三控制器通過導線與第三電控旋轉(zhuǎn)升降裝置相連接；探針陣列裝置包括探針本體、第一電控升降裝置和第一控制器，其中，探針本體與第一電控升降裝置相連接，位于密封測試腔體內(nèi)樣品臺的下面，第一控制器和接線槽位于密封測試腔體的外部，第一電控升降裝置通過導線與第一控制器相連接，探針本體包括至少兩根探針，接線槽內(nèi)包括數(shù)量與探針數(shù)量相一致的接線柱，各個探針分別通過導線與各個接線柱相連接；信號采集/發(fā)射裝置包括信號采集/發(fā)射本體、第二電控平面運動裝置和第二控制器，其中，信號采集/發(fā)射本體與第二電控平面運動裝置相連接，位于密封測試腔體內(nèi)樣品臺的上方，第二控制器和光電測試儀器位于密封測試腔體的外部，第二電控平面運動裝置通過導線與第二控制器相連接；光電測試儀器通過光纖與信號采集/發(fā)射本體相連接。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案：還包括第一計算機終端，所述信號采集/發(fā)射本體為光采集器，所述光電測試儀器的輸出端與第一計算機終端相連接。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案：還包括多功能電源電表和第二計算機終端，所述信號采集/發(fā)射本體為發(fā)射探頭，所述接線槽內(nèi)的接線柱經(jīng)多功能電源電表與第二計算機終端相連接。

本發(fā)明所述一種原位多功能光電器件探針測試裝置采用以上技術方案與現(xiàn)有技術相比，具有以下技術效果：本發(fā)明設計的原位多功能光電器件探針測試裝置，設計了全新的測試裝置，基于此裝置，可以實現(xiàn)真空、氮氣、氧氣等各種不同環(huán)境下對光電器件的自動測試，并可實現(xiàn)密封測試腔體內(nèi)全程自動化操作，實現(xiàn)了針對光電器件的保護，測試過程方便快捷，測試結(jié)果客觀準確，并且大大提高光電器件的測試效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明設計的原位多功能光電器件探針測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

其中，1.?密封測試腔體，2.?樣品臺，3.?探針陣列裝置，4.?接線槽，5.?信號采集/發(fā)射裝置，6.?光電測試儀器，7.?密封門，8.?探針本體，9.?第一電控升降裝置，10.?第一控制器，11.?信號采集/發(fā)射本體，12.?第二電控平面運動裝置，13.?第二控制器，14.?第三電控旋轉(zhuǎn)升降裝置，15.?第三控制器。

具體實施方式

下面結(jié)合說明書附圖對本發(fā)明的具體實施方式作進一步詳細的說明。?