[發明專利]一種精細操作系統及其距離測量的方法

有效

• 申請號: 201410276124.2
• 申請日: 2014-06-19
• 公開（公告）號: CN104048643A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 劉明
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01C3/00
• 分類號: G01C3/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 刁文魁;唐秀萍

1.一種精細操作系統，其特征在于，所述精細操作系統包括：

移動設備，用于對待處理物品進行精細操作或精細檢測；

操作平臺，用于承載所述待處理物品；

測距裝置，用于檢測所述移動設備與所述待處理物品表面之間的距離，其包括：

圖像接收器，其具有一圖像接收平面，所述圖像接收平面與所述操作平臺的承載面平行；以及

透鏡，所述透鏡的主光軸與所述圖像接收平面垂直，所述透鏡的光心與所述圖像接收平面的距離為一預設距離；以及

位置調節器，用于調整所述測距裝置與所述操作平臺之間的距離，使得所述圖像接收平面上的所述待處理物品的成像大小與所述待處理物品的沿透鏡的光軸投影的圖像大小相同。

2.根據權利要求1所述的精細操作系統，其特征在于：其中，所述測距裝置具有一初始位置；

所述測距裝置的初始位置為：沿第一直線方向的所述透鏡的橫截面和所述移動設備的底部所在的平面處于同一參考平面；其中，所述第一直線為：與所述透鏡主光軸垂直且經過的所述透鏡的光心的直線；

所述位置調節器還用于以所述參考平面為基準位置調整所述測距裝置與所述操作平臺之間的距離。

3.根據權利要求2所述的精細操作系統，其特征在于：所述測距裝置沿所述透鏡的光軸方向靠近所述操作平臺或者遠離所述操作平臺。

4.根據權利要求1所述的精細操作系統，其特征在于：所述預設距離為所述透鏡的焦距的2倍。

5.根據權利要求1所述的精細操作系統，其特征在于：所述透鏡為凸透鏡或者凹透鏡。

6.一種使用精細操作系統進行距離測量的方法，所述精細操作系統包括：

移動設備，用于對待處理物品進行精細操作或精細檢測；

操作平臺，用于承載所述待處理物品；

測距裝置，用于檢測所述移動設備與所述待處理物品表面之間的距離，其包括：

圖像接收器，其具有一圖像接收平面，所述圖像接收平面與所述操作平臺的承載面平行；以及

透鏡，所述透鏡的主光軸與所述圖像接收平面垂直，所述透鏡的光心與所述圖像接收平面的距離為一預設距離；以及

位置調節器，用于調整所述測距裝置與所述操作平臺之間的距離，使得所述圖像接收平面上的所述待處理物品的成像大小與所述待處理物品的沿透鏡的光軸投影的圖像大小相同；

其特征在于，所述距離測量的方法包括：

所述位置調節器通過移動所述測距裝置，調整所述測距裝置與所述操作平臺之間的距離，以使得所述圖像接收平面上的所述待處理物品的成像大小與所述待處理物品的沿透鏡的光軸投影的圖像大小相同；

獲取所述測距裝置的移動距離，并將所述移動距離作為第一距離；

根據所述第一距離以及所述透鏡的焦距，獲得第二距離，其中所述第二距離為所述移動設備與所述待處理物品之間的距離；以及

根據所述第二距離，校準所述移動設備，以進行精細操作或精細檢測。

7.根據權利要求6所述的距離測量的方法，其特征在于：其中，所述測距裝置具有一初始位置；

所述測距裝置的初始位置為：沿第一直線方向的所述透鏡的橫截面和所述移動設備的底部所在的平面處于同一參考平面；所述第一直線為與所述透鏡主光軸垂直且經過的所述透鏡的光心的直線；

所述位置調節器還用于以所述參考平面為基準位置調整所述測距裝置與所述操作平臺之間的第一距離。

8.根據權利要求7所述的距離測量的方法，其特征在于：所述根據所述第一距離以及所述透鏡的焦距獲得第二距離的步驟，還包括：

當沿所述透鏡的光軸方向，移動所述測距裝置靠近所述操作平臺時，所述第二距離等于所述第一距離與所述透鏡的焦距的兩倍之和；

當沿所述透鏡的光軸方向，移動所述測距裝置遠離所述操作平臺時，所述第二距離等于所述透鏡的焦距的兩倍減去所述第一距離。

9.根據權利要求6所述的距離測量的方法，其特征在于：所述預設距離為所述透鏡的焦距的2倍。

10.根據權利要求6所述的距離測量的方法，其特征在于：所述透鏡為凸透鏡或者凹透鏡。