[發明專利]一種陣列基板檢測設備

在審

• 申請號: 201410273951.6
• 申請日: 2014-06-18
• 公開（公告）號: CN104090387A
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發明（設計）人: 馬禹
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/02
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;陳源

1.一種陣列基板檢測設備，包括信號輸入單元和信號檢測單元，所述信號輸入單元與多個陣列基板連接，用以向多個所述陣列基板輸入檢測信號，所述信號檢測單元用于采集所述陣列基板中各像素的電學波形信號，并確定陣列基板上的像素是否存在缺陷，其特征在于，每個所述陣列基板和所述信號輸入單元之間連接有通斷開關。

2.根據權利要求1所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，連接于多個所述陣列基板和所述信號輸入單元之間的多個通斷開關依次開啟，以分別對多個所述陣列基板進行檢測。

3.根據權利要求1所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，所述信號輸入單元包括與所述陣列基板的數據線連接的數據信號子單元和與所述陣列基板的柵極線連接的柵極信號子單元；所述數據信號子單元用于向所述陣列基板的數據線輸入數據信號；所述柵極信號子單元用于向所述陣列基板的柵極線輸入柵極信號；

所述通斷開關包括第一通斷開關和第二通斷開關，所述第一通斷開關連接于所述數據信號子單元和所述陣列基板的數據線之間，所述第二通斷開關連接于所述柵極信號子單元和所述陣列基板的柵極線之間。

4.根據權利要求3所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，所述第一通斷開關和所述第二通斷開關均為薄膜晶體管；

所述第一通斷開關的源極與所述數據信號子單元連接，所述第一通斷開關的漏極與所述陣列基板的數據線連接，所述第一通斷開關的柵極與控制器連接，所述控制器通過向所述第一通斷開關的柵極加載正電壓或負電壓，控制所述第一通斷開關開啟或關閉；

所述第二通斷開關的源極與所述柵極信號子單元連接，所述第二通斷開關的漏極與所述陣列基板的柵極線連接，所述第二通斷開關的柵極與所述控制器連接，所述控制器通過向所述第二通斷開關的柵極加載正電壓或負電壓，控制所述第二通斷開關開啟或關閉。

5.根據權利要求4所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，所述第一通斷開關和第二通斷開關的柵極形成為一體，且與所述控制器連接。

6.根據權利要求1所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，多個所述陣列基板所在的玻璃基板上設有多組檢測端子，多組所述檢測端子與多個所述陣列基板一一對應地連接，且多組所述檢測端子與所述信號輸入單元連接。

7.根據權利要求6所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，每組所述檢測端子包括至少一個與其對應的陣列基板的數據線連接的檢測端子，和/或，至少一個與其對應的陣列基板的柵極線連接的檢測端子。

8.根據權利要求6所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，所述通斷開關連接于每個陣列基板和與其對應的一組檢測端子之間。

9.根據權利要求6所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，所述通斷開關連接于每組所述檢測端子和信號輸入單元之間。

10.根據權利要求6所述的陣列基板檢測設備，其特征在于，多組所述檢測端子位于多個所述陣列基板的同一側。