[發(fā)明專(zhuān)利]機(jī)身軸承孔同軸度檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410263141.2 | 申請(qǐng)日: | 2014-06-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104654988A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-05-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐振榮 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 柳州市安龍機(jī)械設(shè)備有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01B5/252 | 分類(lèi)號(hào): | G01B5/252 |
| 代理公司: | 柳州市集智專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所 45102 | 代理人: | 黃有斯 |
| 地址: | 545000 廣西壯族自治區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 廣西;45 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 機(jī)身 軸承 同軸 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種機(jī)身軸承孔同軸度的檢測(cè)方法,其特征在于:機(jī)身上開(kāi)設(shè)有具有公共軸線(a)的第一軸承孔(a1)和第二軸承孔(a2);
使用一種同軸度檢具,該同軸度檢具包括夾裝在夾持桿上的百分表(3),有一根芯軸(2),所述芯軸(2)上分別設(shè)有兩個(gè)外環(huán)邊緣與兩個(gè)軸承孔內(nèi)壁相抵接的第一支承圓環(huán)(1)和第二支承圓環(huán)(4),在所述第一支承圓環(huán)(1)與所述第二支承圓環(huán)(4)外側(cè)的所述芯軸(2)上分別套裝有調(diào)節(jié)螺母(5),在所述第一支承圓環(huán)(1)與所述第二支承圓環(huán)(4)內(nèi)側(cè)的所述芯軸(2)上設(shè)置有定位臺(tái)(6),所述百分表(3)的觸銷(xiāo)與所述芯軸(2)外壁相壓接;
所述第一支承圓環(huán)(1)與所述第二支承圓環(huán)(4)均為相對(duì)設(shè)置的兩個(gè)單環(huán)(1-1)構(gòu)成,所述單環(huán)(1-1)包括套裝在芯軸上的圓筒部(1-1a)和從所述圓筒部(1-1a)的外側(cè)徑向伸出的環(huán)體部(1-1b);
操作步驟包括:
A、將檢具放置于所述機(jī)身內(nèi),調(diào)節(jié)所述芯軸(2)上的所述調(diào)節(jié)螺母(5),將所述第一支承圓環(huán)(1)與所述第二支承圓環(huán)(4)分別與所述第一軸承孔(a1)和所述第二軸承孔(a2)的內(nèi)壁相抵接,使所述芯軸(1)與所述第一軸承孔(a1)和所述第二軸承孔(a2)的公共軸線(a)同軸;
B、將所述百分表(3)的夾持桿夾裝在所述機(jī)身上,使百分表(3)的觸銷(xiāo)與所述芯軸(2)的外壁相壓接;
C、調(diào)所述百分表(3)的指針指向零位;
D、轉(zhuǎn)動(dòng)所述芯軸(1),并讀取百分表(3)顯示的芯軸(2)變化的最大值,此最大值即為機(jī)身的第一軸承孔(a1)與第二軸承孔(a2)對(duì)公共軸心線(a)的同軸度的數(shù)值。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于柳州市安龍機(jī)械設(shè)備有限公司;,未經(jīng)柳州市安龍機(jī)械設(shè)備有限公司;許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410263141.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





