[發明專利]一種適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法

有效

• 申請號: 201410256782.5
• 申請日: 2014-06-10
• 公開（公告）號: CN104063242B
• 公開（公告）日: 2017-07-07
• 發明（設計）人: 張鈺;劉海濤;汪守利;唐珊珊;白浪;王磊
• 申請（專利權）人: 北京遙測技術研究所;航天長征火箭技術有限公司
• 主分類號: G06F9/445
• 分類號: G06F9/445;G06F17/30;G01C25/00
• 代理公司: 中國航天科技專利中心11009
• 代理人: 范曉毅

技術領域

本發明涉及一種適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法，特別是一種使慣性測量單元的嵌入式程序和產品參數分離的方法，屬于慣性測量單元技術領域。

背景技術

一種由微傳感器(微機械陀螺和加速度計)、微處理器(ARM或DSP)和電路集成的慣性測量單元，能實時提供載體的角速度與線加速度，目前在戰術武器控制和戰略武器遙測等領域中已獲得廣泛應用。

慣性測量單元在整個生成過程中需要進行篩選試驗、溫度補償試驗、常溫標定試驗、精度驗證試驗，交付用戶后或者返廠時進行二次標定試驗等大量試驗，試驗狀態不一樣導致產品需要的參數也不一樣。通常情況下，完成試驗后，得到相應的參數，生成相應的嵌入式程序，再將嵌入式程序的二進制文件燒寫到慣性測量單元中。

因此，慣性測量單元在生產過程或交付后參數升級在實際應用中存在的難點：(1)在參數升級時，如何避免修改嵌入式程序，減少手動修改軟件時帶來的錯誤風險；(2)如何設計嵌入式程序和參數升級流程，使參數升級安全可靠，適用于大批量生產。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的上述不足，提供一種適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法，該方法解決傳統方法中參數升級時需要修改嵌入式程序的問題，能夠有效防止更改軟件引入錯誤風險，簡單便捷，安全可靠，適用于慣性測量單元的大批量生產。

本發明的上述目的主要是通過如下技術方案予以實現的：

一種適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法，通過慣性測量單元、上位機和數據庫組成的系統實現，其中慣性測量單元包括Flash，Flash包括程序存儲模塊和參數存儲模塊，具體實現過程如下：

步驟(一)、在慣性測量單元封蓋前，上位機將嵌入式程序燒寫到慣性測量單元Flash中的程序存儲模塊中；同時上位機從數據庫中讀取初始狀態下的產品狀態字S₀、濾波器參數、零位溫度補償系數Z₀、標度因數溫度補償系數KT₀、常溫標定補償系數N₀、交叉耦合補償系數M₀、相對標定補償系數RN₀和相對交叉耦合補償系數RM₀燒寫到慣性測量單元Flash的參數存儲模塊中；之后對慣性測量單元進行封蓋；

步驟(二)、對慣性測量單元進行篩選試驗和溫度補償試驗，得到升級所需的零位溫度補償系數Z₁和標度因數溫度補償系數KT₁，將所述零位溫度補償系數Z₁和標度因數溫度補償系數KT₁存儲在數據庫中覆蓋Z₀和KT₀，修改產品狀態字S₀為S₁；之后上位機從數據庫中讀取所有存儲參數，生成二進制文件；

步驟(三)、慣性測量單元上電，響應升級指令，擦除Flash中參數存儲模塊中的所有數據，將步驟(二)中生成的二進制文件燒寫到參數存儲模塊中；

步驟(四)、慣性測量單元上電，進行常溫標定試驗，得到升級所需的常溫標定補償系數N₁和交叉耦合補償系數M₁，將所述常溫標定補償系數N₁和交叉耦合補償系數M₁存儲在數據庫中覆蓋N₀和M₀，修改產品狀態字S₁為S₂；上位機從數據庫中讀取所有存儲參數，生成二進制文件；

步驟(五)、慣性測量單元上電，響應升級指令，擦除Flash中參數存儲模塊中的所有數據，將步驟(四)中生成的二進制文件燒寫到參數存儲模塊中；

步驟(六)、慣性測量單元上電，進行精度驗證試驗。

在上述適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法中，步驟(一)中的嵌入式程序包括篩選試驗、溫度補償試驗、常溫標定試驗和精度驗證試驗對應的程序，不同的程序對應不同的產品狀態字，其中S₀對應篩選試驗和溫度補償試驗，S₁對應常溫標定試驗，S₂對應精度驗證試驗，慣性測量單元上電后，讀取Flash的參數存儲模塊內的產品狀態字，運行產品狀態字對應的試驗。