[發明專利]一種適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法

有效

• 申請號: 201410256782.5
• 申請日: 2014-06-10
• 公開（公告）號: CN104063242B
• 公開（公告）日: 2017-07-07
• 發明（設計）人: 張鈺;劉海濤;汪守利;唐珊珊;白浪;王磊
• 申請（專利權）人: 北京遙測技術研究所;航天長征火箭技術有限公司
• 主分類號: G06F9/445
• 分類號: G06F9/445;G06F17/30;G01C25/00
• 代理公司: 中國航天科技專利中心11009
• 代理人: 范曉毅

1.一種適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法，其特征在于：通過慣性測量單元、上位機和數據庫組成的系統實現，其中慣性測量單元包括Flash，Flash包括程序存儲模塊和參數存儲模塊，具體實現過程如下：

步驟(一)、在慣性測量單元封蓋前，上位機將嵌入式程序燒寫到慣性測量單元Flash中的程序存儲模塊中；同時上位機從數據庫中讀取初始狀態下的產品狀態字S₀、濾波器參數、零位溫度補償系數Z₀、標度因數溫度補償系數KT₀、常溫標定補償系數N₀、交叉耦合補償系數M₀、相對標定補償系數RN₀和相對交叉耦合補償系數RM₀燒寫到慣性測量單元Flash的參數存儲模塊中；之后對慣性測量單元進行封蓋；

步驟(二)、對慣性測量單元進行篩選試驗和溫度補償試驗，得到升級所需的零位溫度補償系數Z₁和標度因數溫度補償系數KT₁，將所述零位溫度補償系數Z₁和標度因數溫度補償系數KT₁存儲在數據庫中覆蓋Z₀和KT₀，修改產品狀態字S₀為S₁；之后上位機從數據庫中讀取所有存儲參數，生成二進制文件；

步驟(三)、慣性測量單元上電，響應升級指令，擦除Flash中參數存儲模塊中的所有數據，將步驟(二)中生成的二進制文件燒寫到參數存儲模塊中；

步驟(四)、慣性測量單元上電，進行常溫標定試驗，得到升級所需的常溫標定補償系數N₁和交叉耦合補償系數M₁，將所述常溫標定補償系數N₁和交叉耦合補償系數M₁存儲在數據庫中覆蓋N₀和M₀，修改產品狀態字S₁為S₂；上位機從數據庫中讀取所有存儲參數，生成二進制文件；

步驟(五)、慣性測量單元上電，響應升級指令，擦除Flash中參數存儲模塊中的所有數據，將步驟(四)中生成的二進制文件燒寫到參數存儲模塊中；

步驟(六)、慣性測量單元上電，進行精度驗證試驗。

2.根據權利要求1所述的一種適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法，其特征在于：所述步驟(一)中的嵌入式程序包括篩選試驗、溫度補償試驗、常溫標定試驗和精度驗證試驗對應的程序，不同的程序對應不同的產品狀態字，其中S₀對應篩選試驗和溫度補償試驗，S₁對應常溫標定試驗，S₂對應精度驗證試驗，慣性測量單元上電后，讀取Flash的參數存儲模塊內的產品狀態字，運行產品狀態字對應的試驗。

3.根據權利要求1所述的一種適用于慣性測量單元全生產過程參數升級的方法，其特征在于：所述升級后的常溫標定補償系數N₁和交叉耦合補償系數M₁在規定的有效期過后，再次進行常溫標定試驗，得到修正后的相對標定補償系數RN₁和相對交叉耦合補償系數RM₁，覆蓋相對標定補償系數RN₀和相對交叉耦合補償系數RM₀，從而提高產品精度。