[發明專利]一種引線框架鍍銅方法及引線框架、引線框架排有效
| 申請號: | 201410250793.2 | 申請日: | 2014-06-06 |
| 公開(公告)號: | CN104112705B | 公開(公告)日: | 2017-06-13 |
| 發明(設計)人: | 鄭康定;曹光偉;馮小龍;段華平;馬葉軍 | 申請(專利權)人: | 寧波康強電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L23/495 |
| 代理公司: | 寧波市鄞州盛飛專利代理事務所(普通合伙)33243 | 代理人: | 張向飛 |
| 地址: | 315100 浙江省寧*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 引線 框架 鍍銅 方法 | ||
技術領域
本發明屬于半導體制造領域,涉及一種引線框架,特別是一種更易制造的引線框架和引線框架排。
背景技術
半導體封裝技術已經是非常成熟的工藝,引線框架是引線框架作為集成電路的芯片載體,是一種借助于鍵合材料(金絲、鋁絲、銅絲)實現芯片內部電路引出端與外引線的電氣連接,形成電氣回路的關鍵結構件,它起到了和外部導線連接的橋梁作用,絕大部分的半導體集成塊中都需要使用引線框架。
目前引線框架基本上均采用銅基合金作為主要材料。但是隨著銅價的上漲,引線框架的成本大幅上升,給企業帶來了很大壓力。如何采用新材料替代銅合金已經成為亟待解決的問題。現有技術為解決該問題提供了多種解決方案,例如申請號為CN201010152911.8的中國專利“應用在功率半導體元器件中的鋁合金引線框架”,其采用鋁合金作為基體材料,并電鍍多層電鍍層,此種方案結構過于復雜。又如申請號為CN200780011289.5的中國專利“用于半導體QFN/SON器件的鋁引線框架”,其將鋅層和鎳層鍍在引線段沒有被封裝材料覆蓋的部分,其成本較高。
另外,隨著半導體集成化程度越來越高,對半導體器件的尺寸要求越來越小,而對處理能力的高要求使得芯片在尺寸和體積上縮減的空間有限,因此如何小型化主要在封裝結構上。如何提供一種能夠減小封裝結構的體積,是行業內都在考慮的問題。
發明內容
本發明的目的是針對現有的技術存在上述問題,提出了一種引線框架和引線框架排。
本發明的目的可通過下列技術方案來實現:提供一種引線框架鍍銅方法,所述引線框架基體由鋁合金制成,所述鍍銅方法包括步驟:
S1:脫脂去油,藥水成分及含量:
氫氧化鈉:30-45%,偏硅酸鈉:35-40%,除油劑:40g/L,在50℃-70℃進行脫脂去油;
S2:預鍍:電鍍液配方及含量為:
硫酸鎳:300-700g/L,硫酸鈉:8-10g/L,氯化鎳:20-25g/L,氯化鈉:2-5g/L;
電鍍參數為:溫度:80-90℃,電流密度:150-170A/dm2,電鍍液PH:3-4;
S3:鍍銅:電鍍液配方及含量為:
硫酸銅:130-150g/L,氯化銅:20-30g/L,鹽酸:30-40mol/L,銅光亮劑:0.1-0.3g/L。
進一步地,在步驟S1和S2之間還包括浸鋅步驟,所述浸鋅步驟包括:
一次浸鋅步驟:將去油后的鋁合金基體放入鋅離子濃度為35-45g/L,三氧化鐵濃度為60-70g/L,氫氧化鈉濃度為200-250g/L的混合溶液中浸鋅,浸鋅溫度55-60℃;而后再用溫度為50℃的清水洗滌;
一次酸洗步驟:將一次浸鋅后的鋁合金基體放入濃度為50-100g/L,溫度為30-40℃的硝酸溶液酸洗;
二次浸鋅步驟:將酸洗后的鋁合金基體放入每升含有350-400克氧化鐵,55-75克氫氧化鈉的混合液中二次浸鋅,混合液溫度為55-60℃;
二次酸洗步驟:將二次浸鋅后的鋁合金基體放入濃度為700-750g/L的硝酸溶液中二次酸洗,酸洗時間20-30分鐘,酸洗溫度55-70℃;
三次浸鋅步驟:將二次酸洗后的鋁合金基體放入鋅離子濃度為20-30g/L的溶液中三次浸鋅,三次浸鋅溫度20-30℃。
進一步地,在步驟S3后還包括抗氧化處理步驟;將鍍銅后的引線框架放入苯并三氮唑濃度為1g/L,,硫酸鋅濃度為0.6g/L,硫基苯并噻唑濃度為2g/L的混合液中處理5-10分鐘。
進一步地,所述鋁合金按照質量百分比包括:鎂:0.4-1.5%、硅:0.02-0.8%、銅:0.2-0.5%、錳:0.02-0.2%、鉻:0.1-0.3%、鋯:0.05-0.25%,余量為鋁和不可避免的雜質。
進一步地,鍍鋅層厚度為0.1-0.5微米,鍍鎳層厚度為0.2-3微米,鍍銅層厚度為3-20微米。
本發明還提供一種引線框架,其包括芯片座和分布在所述芯片座一側的多根引線,所述多根引線包括芯片引線和接腳引線,所述芯片引線與所述芯片座連接,所述接腳引線與所述芯片座斷開,所述多根引線為片狀并在同一平面上,所述芯片座為片狀且與所述引線所在平面平行而不共面。
在上述的引線框架中,所述多根引線相互平行。
本發明還提供一種引線框架排,為一金屬條中沖壓或蝕刻形成的多個依次連接的上述的引線框架,每個所述連接片一側與所述引線框架的另一側連接,多個所述連接片前后相接成一排。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





