[發明專利]一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統

有效

• 申請號: 201410247777.8
• 申請日: 2014-06-05
• 公開（公告）號: CN104049231B
• 公開（公告）日: 2017-02-01
• 發明（設計）人: 黃奇峰;湯漢松;王忠東;羅強;盧樹峰;楊世海;陳銘明;徐敏銳;趙雙雙;陳剛;田正其
• 申請（專利權）人: 國家電網公司;江蘇省電力公司;江蘇省電力公司電力科學研究院;江蘇凌創電氣自動化股份有限公司
• 主分類號: G01R35/02
• 分類號: G01R35/02
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司32224
• 代理人: 董建林

1.一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：包括依次連接的標準互感器、I/U變換器、A/D采集電路、CPU、上位機，所述CPU還連接有基于FPGA的數字量采集模塊，所述基于FPGA的數字量采集模塊的竄行數據接口外接采集器，以太網數據接口外接合并單元；

所述標準互感器設置在套有光纖環的一次側導線上，作為標準信號源；

所述A/D采集電路以標準信號為基準實現模擬量數據采集，并將模擬量數據發送給內含恒溫晶振的CPU；

所述基于FPGA的數字量采集模塊用以采集采集器輸出的串行數據以及合并單元輸出的以太網數據，并將串行數據和以太網數據發送給內含恒溫晶振的CPU；

所述CPU接收模擬量數據、串行數據和以太網數據，并計算出各自的基波相位角，利用基波相位角之間的關系計算出模擬量與光學電子式互感器本體之間的延時、模擬量與合并單元之間的延時，并根據采集器與合并單元標定的額定延時值分別計算出t1、t2和t3，其中t1為光學電子式互感器物理延時，t2為采集器處理延時，t3為合并單元處理延時；

所述上位機用以實現與CPU之間的數據交互。

2.根據權利要求1所述的一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：所述基于FPGA的數字量采集模塊與合并單元之間還設有用以時間消抖的DPLL，所述DPLL包括依次連接的鑒相器、LPF和壓控振蕩器，所述壓控振蕩器的反饋輸出端與鑒相器的反饋輸入端連接。

3.根據權利要求2所述的一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：所述DPLL與合并單元之間還設第一光接收器。

4.根據權利要求1所述的一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：所述基于FPGA的數字量采集模塊通過分光器與采集器的輸出端連接。

5.根據權利要求4所述的一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：所述基于FPGA的數字量采集模塊與分光器之間還設有第二光接收器。

6.根據權利要求1所述的一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：所述CPU為內置恒溫晶振的CPU，內置的恒溫晶振用以對模擬量的采集、串行數據采集和以太網數據采集打上統一的時間基準。

7.根據權利要求6所述的一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：所述恒溫晶振的精度為0.001PPM。

8.根據權利要求1所述的一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：所述A/D采集電路采用24位A/D轉換芯片。

9.根據權利要求1所述的一種光學電子式互感器分離單元一體化延時測試系統，其特征在于：所述上位機為計算機。