[發(fā)明專利]EMI濾波器芯片插入損耗評(píng)估定量方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410244170.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-06-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105281697A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-01-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱工大華生電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H03H7/01 | 分類號(hào): | H03H7/01 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 150028 黑龍江省哈爾濱*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | emi 濾波器 芯片 插入損耗 評(píng)估 定量 方法 | ||
1.一種EMI濾波器芯片插入損耗評(píng)估定量方法,該方法根據(jù)電路板介電常數(shù)Er,網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口匹配阻抗,板厚H和鋪銅厚度值T,通過(guò)阻抗定量模型Z={87/[sqrt(Er+1.41)]}ln[5.98H/(0.8W+T)]計(jì)算電路板線寬W,然后根據(jù)串聯(lián)寄生電感模型1/L=(1/L1+1/L2+1/L3+…1/Ln),在電路板非走線部分加工接地通孔,進(jìn)一步降低電路板通孔的串聯(lián)接地電感。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EMI濾波器芯片插入損耗評(píng)估定量方法,其特征在于:根據(jù)阻抗定量模型Z={87/[sqrt(Er+1.41)]}ln[5.98H/(0.8W+T)],結(jié)合串聯(lián)寄生電感模型1/L=(1/L1+1/L2+1/L3+…1/Ln)進(jìn)行EMI濾波器芯片評(píng)估用電路板的設(shè)計(jì)步驟為:
第一步,獲取電路板介電常數(shù)Er;
第二步,通過(guò)網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口匹配阻抗確定電路板走線阻抗Z;
第三步,通過(guò)通孔串聯(lián)接地電感值與長(zhǎng)度的經(jīng)驗(yàn)值,即0.5mm長(zhǎng)通孔寄生電感0.5nH確定寄生電感值的同時(shí)確認(rèn)電路板厚H;
第四步,確定T為1oz;
第五步,綜合以上幾步確認(rèn)后的值,根據(jù)阻抗定量模型推出電路板線寬W;
第六步,在此基礎(chǔ)上進(jìn)一步降低電路板通孔的串聯(lián)接地電感,根據(jù)串聯(lián)寄生電感模型1/L=(1/L1+1/L2+1/L3+…1/Ln),在電路板非走線部分加工接地通孔以降低電路板通孔的串聯(lián)接地電感。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于哈爾濱工大華生電子有限公司,未經(jīng)哈爾濱工大華生電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410244170.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。





