[發明專利]模糊校正裝置

有效

• 申請號: 201410242624.4
• 申請日: 2014-06-03
• 公開（公告）號: CN104219441B
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 弓削一憲;太田雅也;末岡良章
• 申請（專利權）人: 奧林巴斯株式會社
• 主分類號: H04N5/232
• 分類號: H04N5/232;G03B5/06
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 呂俊剛,劉久亮

技術領域

這里描述的實施方式總體上涉及在諸如數字像機的攝影裝置中搭載的模糊校正裝置。

背景技術

近年來，設置有用于對因拍者的手部的移動而造成的圖像模糊進行校正的模糊校正裝置的數字像機已經流行開來。已知兩種類型的模糊校正技術。在第一類模糊校正裝置中，沿著與光軸垂直的平面來驅動圖像傳感器從而消除模糊。在第二類模糊校正裝置中，沿著與光軸垂直的平面來驅動透鏡從而消除模糊。VCM(音圈電機)通常被用作這種模糊校正裝置的驅動機構。

VCM包括磁體和線圈。磁體和線圈中的一方被附接到支承待驅動光學元件(例如圖像傳感器或透鏡)的可動框，而磁體和線圈中的另一方被附接到支承可動框的固定框，使得可動框能夠沿著與光軸垂直的平面移動。如上所述，磁體和線圈可以被附接到可動框或固定框，其中磁體和線圈中的一方被附接到可動框，而磁體和線圈中的另一方被附接到固定框。

另外，霍爾元件被附接到可動框或固定框中的任意一方上，使得能夠檢測可動框相對于固定框的位置，并且在可動框或固定框中的另一方上附接了位置檢測用磁體。霍爾元件和位置檢測用磁體基本上可以附接到可動框或固定框中的任意一方上。用于驅動VCM的磁體也可以用于位置檢測。

日本特開No.2008-26882公開了這樣一種結構，即，驅動用磁體被附接到固定框，驅動用線圈被附接到與驅動用磁體相對的可動框，位置檢測用磁體被附接到偏離驅動用線圈的可動框，并且霍爾元件被附接到與驅動用磁體相對的固定框。

發明內容

本發明的示范實施方式的模糊校正裝置包括：第一固定件，線圈設置在該第一固定件上；可動元件，其包括：(1)面對所述線圈的第一磁體；(2)第二磁體，其與所述第一磁體相鄰設置使得所述第一磁體布置在所述第二磁體與所述線圈之間；以及(3)光學元件，其中所述可動元件能夠在與所述光學元件的光軸垂直的方向上相對于所述第一固定件移動；以及第二固定件，其包括與所述第二磁體相鄰設置的霍爾元件。

附圖說明

圖1是示出本發明的實施方式的數字像機的立體圖。

圖2是示出圖1的數字像機中包括的鏡頭單元的立體圖。

圖3是通過沿著光軸切割圖2的鏡頭單元所獲得的截面圖。

圖4是示出根據實施方式的包括在圖2的鏡頭單元中的模糊校正單元的立體圖。

圖5是圖4的模糊校正單元的分解立體圖。

圖6是通過沿著線F6-F6切割圖4的模糊校正單元所獲得的截面圖。

圖7是通過沿著線F7-F7切割圖4的模糊校正單元所獲得的截面圖。

圖8是從物側示出圖5的可動體的圖示。

圖9是從圖像傳感器側示出圖8的可動體的圖示。

圖10中的(a)是從物側示出組件的圖示，其中圖8的可動體連接到固定筒。

圖10中的(b)是(a)的主要部分的局部放大圖。

圖11是通過沿著線F11-F11切割圖10的組件所獲得的截面圖。

圖12是示出對圖4的模糊校正單元進行控制的控制系統的框圖。

圖13是表明沿著光軸包含在圖4中的模糊校正單元中的各個部件的關系的布置圖。

圖14是示出當圖13的距離“A”發生改變時驅動力和磁通量的曲線。

圖15是示出不包括第二磁體的模糊校正單元的霍爾元件輸出的驅動頻率特性的曲線。

圖16是示出實施方式的包括第二磁體的模糊校正單元的霍爾元件輸出的驅動頻率特性的曲線。

具體實施方式

下面參照附圖來說明本發明的示范實施方式。在用于以下描述的每個附圖中，各個部件都以符合各個部件的不同比例來繪制，以便各個部件能夠在圖中被識別。因此，本發明并不僅限于在這些圖中例示的部件數量和個數、部件形狀、部件大小比例以及各個部件的相對位置關系。

在以下描述中，從像機機身200到被攝體(未示出)的方向被稱為“向前”，而與之相反的方向被稱為“向后”。與構成光學單元100的光學系統的光軸O一致的軸被定義為“Z軸”，而在與Z軸垂直的平面內彼此垂直的兩個軸被分別定義為“X軸”(水平方向的軸)和“Y軸”(垂直方向的軸)。附圖中示出了X軸、Y軸和Z軸。

圖1是示出本發明的示范實施方式的數字像機10的立體圖。圖2是示出圖1的數字像機10中包括的鏡頭單元100的立體圖。圖3是通過沿著光軸O切割圖2的鏡頭單元所獲得的截面圖。