[發明專利]模糊校正裝置

有效

• 申請號: 201410242624.4
• 申請日: 2014-06-03
• 公開（公告）號: CN104219441B
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 弓削一憲;太田雅也;末岡良章
• 申請（專利權）人: 奧林巴斯株式會社
• 主分類號: H04N5/232
• 分類號: H04N5/232;G03B5/06
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 呂俊剛,劉久亮

1.一種模糊校正裝置，該模糊校正裝置包括：

a)第一固定件，用于產生磁通的線圈布置在所述第一固定件上；

b)可動件，其包括

1)面對所述線圈的第一磁體，

2)第二磁體，其隔著所述第一磁體被布置在與所述線圈的相反側，以及

3)光學件，

其中，所述可動件能夠在與所述光學件的光軸垂直的方向上相對于所述第一固定件移動；以及

c)第二固定件，其包括霍爾元件，所述霍爾元件在光軸方向上隔著所述第二磁體被布置在與所述第一磁體的相反側，

其中，所述第二磁體比所述第一磁體小，所述線圈、所述第一磁體、所述第二磁體、以及所述霍爾元件被布置得按照所述線圈、所述第一磁體、所述第二磁體、以及所述霍爾元件的順序沿著所述光學件的光軸方向排列。

2.根據權利要求1所述的模糊校正裝置，其中，所述第一磁體和所述第二磁體被定位在所述可動件上，使得所述第一磁體和所述第二磁體相互增強磁力。

3.根據權利要求1所述的模糊校正裝置，其中，將所述第一磁體的磁極分開的假想邊界線和將所述第二磁體的磁極分開的假想邊界線與所述光學件的光軸方向平行。

4.根據權利要求1所述的模糊校正裝置，其中，所述第二磁體的磁力弱于所述第一磁體的磁力。

5.根據權利要求3所述的模糊校正裝置，其中，所述霍爾元件的中心和磁極的邊界在沒有電流經過所述線圈的狀態下是共面的。

6.根據權利要求1所述的模糊校正裝置，其中，所述第一磁體與所述第二磁體被間隔開如下的距離：(1)所述第二磁體對由于從所述線圈提供的磁通而產生的驅動力有貢獻，并且(2)所述霍爾元件的位置檢測的精度不受所述磁通的影響。

7.根據權利要求1所述的模糊校正裝置，其中，所述第一固定件是快門單元。

8.根據權利要求7所述的模糊校正裝置，其中，所述第二固定件是鏡筒。

9.根據權利要求1所述的模糊校正裝置，其中，所述光學件是鏡筒的透鏡組。

10.根據權利要求1所述的模糊校正裝置，其中，所述光學件是圖像傳感器。

11.一種模糊校正裝置，該裝置包括：

a)第一構件，其包括用于產生磁通的線圈；

b)第二構件，其包括用于檢測磁通的霍爾元件；

c)第三構件，其能夠相對于所述第一構件和所述第二構件移動，所述第三構件包括

1)光學件，

2)面對所述線圈的第一磁體，以及

3)第二磁體，其隔著所述第一磁體被布置在與所述線圈的相反側，并且使得所述第二磁體被布置在所述第一磁體與所述霍爾元件之間，所述霍爾元件在光軸方向上隔著所述第二磁體被布置在與所述第一磁體的相反側；以及

d)模糊校正控制器，其被設置為：

1)接收第一輸入，該第一輸入表示由于抖動造成的模糊，

2)接收第二輸入，該第二輸入表示由所述霍爾元件檢測到的磁通，

3)基于接收到的第一輸入和第二輸入來確定模糊校正值，以及

4)基于所確定的模糊校正值來提供輸出，以通過所述線圈來提供受控電流，

其中，所述第二磁體比所述第一磁體小，所述線圈、所述第一磁體、所述第二磁體、以及所述霍爾元件被布置得按照所述線圈、所述第一磁體、所述第二磁體、以及所述霍爾元件的順序沿著所述光學件的光軸方向排列，

響應于流經所述線圈的電流，所述第一磁體和所述第二磁體使所述第三構件在與所述光學件的光軸垂直的方向上相對于所述第一構件移動。

12.根據權利要求11所述的裝置，其中，所述光學件是圖像傳感器。

13.根據權利要求11所述的裝置，其中，所述光學件是透鏡組。

14.根據權利要求11所述的裝置，其中，所述霍爾元件與所述線圈間隔開，使得所述霍爾元件檢測到的由來自所述線圈的磁通所導致的噪聲低于預定值。

15.根據權利要求11所述的裝置，其中，所述第一構件、所述第二構件和所述第三構件均是可縮回鏡筒的一部分。

16.根據權利要求11所述的裝置，其中，所述第二磁體小于且弱于所述第一磁體。