[發(fā)明專利]生長在藍(lán)寶石襯底上的金屬Al單晶薄膜及其制備方法和應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410240851.3 | 申請日: | 2014-05-30 |
| 公開(公告)號: | CN103996607B | 公開(公告)日: | 2016-10-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李國強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 廣州市眾拓光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/20 | 分類號: | H01L21/20;H01L21/268;H01L33/32;H01L31/0352 |
| 代理公司: | 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 湯喜友 |
| 地址: | 510000 廣東省廣州市廣州*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 生長 藍(lán)寶石 襯底 金屬 al 薄膜 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
1.一種生長在藍(lán)寶石襯底上的金屬Al單晶薄膜,其特征在于:包括Al2O3襯底及其(0002)面往(10-12)面偏0.2-0.5°方向外延生長的金屬Al單晶薄膜。?
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的生長在藍(lán)寶石襯底上的金屬Al單晶薄膜,其特征在于:所述金屬Al單晶薄膜的厚度為200-600nm。?
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的生長在藍(lán)寶石襯底上的金屬Al單晶薄膜的制備方法,其特征在于包括如下步驟:?
a.將Al2O3襯底進(jìn)行清潔、退火處理;?
b.將經(jīng)過a步驟處理的Al2O3襯底在其(0002)面往(10-12)面偏0.2-0.5°方向作為晶體外延生長方向,外延一層金屬Al單晶薄膜。?
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的生長在藍(lán)寶石襯底上的金屬Al單晶薄膜的制備方法,其特征在于:所述b步驟的金屬Al單晶薄膜的厚度為200-600nm。?
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的生長在藍(lán)寶石襯底上的金屬Al單晶薄膜的制備方法,其特征在于所述a步驟的清洗具體為:將Al2O3襯底放入去離子水中,在室溫下超聲清洗3-5分鐘,再依次經(jīng)過鹽酸、丙酮、乙醇洗滌,去除表面有機(jī)物,用高純干燥氮?dú)獯蹈伞?
6.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的生長在藍(lán)寶石襯底上的金屬Al單晶薄膜的制備方法,其特征在于所述a步驟的退火具體為:將襯底放入退火室內(nèi),在800-900℃下空氣氛圍中對Al2O3襯底進(jìn)行退火處理30-90分鐘,然后空冷至室溫。?
7.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的生長在藍(lán)寶石襯底上的金屬Al單晶薄膜的制備方法,其特征在于所述b步驟的外延一層金屬Al單晶薄膜具體為:采用分子束外延生長工藝,將襯底保持在650-850℃,在反應(yīng)室的壓力為4.0-8.0×10-5Torr、氮?dú)饬髁繛?.1-1sccm、等離子體激發(fā)功率為300-500W條件下在藍(lán)寶石襯底上?生長金屬Al單晶薄膜。?
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的生長在藍(lán)寶石襯底上的高均勻性AlN薄膜,其特征在于:用于制備光電器件或光學(xué)多層膜。?
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的生長在藍(lán)寶石襯底上的高均勻性AlN薄膜,其特征在于:所述光電器件為LED、光電探測器和太陽能電池中的一種。?
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





