[發明專利]樣品原子能譜分析儀在審
| 申請號: | 201410230746.1 | 申請日: | 2014-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN104020141A | 公開(公告)日: | 2014-09-03 |
| 發明(設計)人: | 儲冬紅;彭飛;郭睦庚;嚴方園 | 申請(專利權)人: | 成都中遠千葉科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/63 | 分類號: | G01N21/63 |
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| 地址: | 610100 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 樣品 原子能 譜分析 | ||
技術領域
本發明涉及原子能譜領域,尤其涉及樣品原子能譜分析儀。
背景技術
樣品原子能譜分析,對化合物的鑒定、化學過程的控制、分子結構的確定、定性和定量化學分析具有重要意義,不同原子的能譜吸收和跳變躍級釋放出的光的波長不一樣,也產生了顏色的差別。以單原子的形式而存在,關鍵看該原子的電子激發能。如果在可見光的某個范圍內,并且吸收某一部分光線,那它就顯剩下的部分的光線的顏色。原子的電子激發能非常低,能吸收任何光線,它就是白色的。如果它能吸收短波部分的光線,那它就是紅色或黃色的。通過能譜的研究,可以得到原子、分子等的能級結構、能級壽命、電子的組態、分子的幾何形狀、化學鍵的性質、反應動力學等多方面物質結構特征。
發明內容
為了克服現有裝置的不足之處,本發明采用的技術方案如下:
樣品原子能譜分析儀,其特征在于,主要包括:
1--光源裝置,2--光束調光裝置,3--光束控制裝置,4--聚焦裝置,5--樣品分析裝置,6--樣品汽化裝置,7--樣品導入裝置,8--高壓正極裝置,9--高壓負極裝置,10--信號轉換裝置,11--信號顯示與記錄裝置;
其中,
光源裝置(1)含有高能發射電極,電極材料為氧化鎶鈇合金,
光束調光裝置(2)含有七棱圓柱偏振透鏡,該透鏡表面覆蓋有溴化镥锘納米復合材料透光膜,
光束控制裝置(3)含有濾光諧波透鏡,該透鏡兩面都鍍有厚度為20nm的鉻酸鏑鈩復合材料濾光膜,
高壓正極裝置(8)含有高電位電極,該電極材料為碳化钷鉿合金。
光源裝置(1)主要用于高能光電子束的產生,為樣品原子特征分析提供足夠的能量,光束調光裝置(2)主要用于光束的非正常偏振引起的譜線漂移的校正與消除,光束控制裝置(3)主要用于減少光束的界面反射引起的特征譜線衰減,聚焦裝置(4)主要用于光束的路徑匯集,實現光束能量傳導的約束。
樣品分析裝置(5)主要用于樣品的原子能譜分析,樣品汽化裝置(6)主要用于樣品的高溫原子汽化,為便于實現原子能譜分析,樣品導入裝置(7)主要用于原子能譜待測樣品的進樣,高壓正極裝置(8)和高壓負極裝置(9)主要用于樣品高能解離提供足夠的能量,實現原子能譜特征譜線的生成,信號轉換裝置(10)主要用于能譜分析信號的轉換與傳導,信號顯示與記錄裝置(11)主要用于檢測分析信號的顯示與記錄。
本發明與現有技術相比具有的有益效果是:
(1)通過光束調光裝置實現光束的非正常偏振引起的譜線漂移的校正與消除;
(2)通過光束控制裝置實現減少光束的界面反射引起的特征譜線衰減,
(3)通過聚焦裝置進行光束的路徑匯集,實現光束能量傳導的約束;
附圖說明
圖1是樣品原子能譜分析儀的示意圖
如圖1所示,本發明所述的樣品原子能譜分析儀,主要包括:
1--光源裝置,2--光束調光裝置,3--光束控制裝置,
4--聚焦裝置,5--樣品分析裝置,6--樣品汽化裝置
7--樣品導入裝置,8--高壓正極裝置,9--高壓負極裝置,
10--信號轉換裝置,11--信號顯示與記錄裝置;
下面結合附圖對本發明的具體實施方式作進一步詳細的描述。
具體實施方式
首先,通過光源裝置(1)進行高能光電子束的產生,為樣品原子特征分析提供足夠的能量,然后,采用光束調光裝置(2)實現光束的非正常偏振引起的譜線漂移的校正與消除,借助于光束控制裝置(3)減少光束的界面反射引起的特征譜線衰減,通過聚焦裝置(4)進行光束的路徑匯集,實現光束能量傳導的約束。結合樣品分析裝置(5)實現樣品的原子能譜分析,采用樣品汽化裝置(6)進行樣品的高溫原子汽化,為便于實現原子能譜分析,通過樣品導入裝置(7)實現原子能譜待測樣品的進樣,借助于高壓正極裝置(8)和高壓負極裝置(9)為樣品高能解離提供足夠的能量,實現原子能譜特征譜線的生成,通過信號轉換裝置(10)進行能譜分析信號的轉換與傳導,最后,采用信號顯示與記錄裝置(11)實現檢測分析信號的顯示與記錄。
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