[發明專利]樣品原子能譜分析儀在審
| 申請號： | 201410230746.1 | 申請日： | 2014-05-28 |
| 公開（公告）號： | CN104020141A | 公開（公告）日： | 2014-09-03 |
| 發明（設計）人： | 儲冬紅;彭飛;郭睦庚;嚴方園 | 申請（專利權）人： | 成都中遠千葉科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/63 | 分類號： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 610100 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 樣品 原子能 譜分析 | ||
【權利要求書】：
1.樣品原子能譜分析儀，其特征在于，主要包括：
1--光源裝置，2--光束調光裝置，3--光束控制裝置，?4--聚焦裝置，5--樣品分析裝置，6--樣品汽化裝置，?7--樣品導入裝置，8--高壓正極裝置，9--高壓負極裝置，?10--信號轉換裝置，11--信號顯示與記錄裝置；
其中，
光源裝置（1）含有高能發射電極，電極材料為氧化鎶鈇合金，
光束調光裝置（2）含有七棱圓柱偏振透鏡，該透鏡表面覆蓋有溴化镥锘納米復合材料透光膜，
光束控制裝置（3）含有濾光諧波透鏡，該透鏡兩面都鍍有厚度為20?nm的鉻酸鏑鈩復合材料濾光膜，
高壓正極裝置（8）含有高電位電極，該電極材料為碳化钷鉿合金。
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