[發明專利]ID編碼誤差判讀尺及判讀方法

有效

• 申請號: 201410230672.1
• 申請日: 2014-05-28
• 公開（公告）號: CN104006742B
• 公開（公告）日: 2017-01-11
• 發明（設計）人: 吳韋良;徐勇;邱圣富;邱宗文
• 申請（專利權）人: 上海和輝光電有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 上海唯源專利代理有限公司31229
• 代理人: 曾耀先

技術領域

本發明涉及一種誤差量測工具及使用方法，具體涉及一種用于檢測面板ID編碼誤差的判讀尺及判讀方法。

背景技術

在光電領域的面板生產過程中，無論是玻璃基板還是其他面板，為了能隨時對面板追蹤監控，都需在面板上進行ID編碼刻號。目前ID編碼刻號采用二位編碼，在刻號過程中常常會出現定位精度偏差和面板形變等問題，造成ID編碼刻號超出制程規范，并使得面板在后續的工序中無法讀取ID編碼刻號。因此，需要對所刻上的ID編碼號進行工藝監控。

而現行的檢測監控的機制主要有以下兩種：1)當ID編碼數量較少時，可直接通過架設代碼讀取器進行判讀；2)當ID編碼數量較多時，則通過拍照設備將ID編碼圖片存取，之后人工對比進行判讀。

顯而易見的，上述兩種機制存在以下缺陷：代碼讀取器通常是在生產大尺寸面板并且ID編碼較少的情形下才會應用進行判讀，此種方式的局限性比較大。當采用人工比對判讀時，因人而異并無精準的判定標準，并且，通過人肉眼判斷其誤差范圍就不能保證，甚至可能會出現將有異常的產品誤判為正常產品的情況。無論是那種情況，若ID編碼無法正確判讀，則會在后續制設備讀取ID編碼時發生異常而使得產線停線；或者，在客戶發現產品異常時，客戶無法向廠家反饋正確的生產批號，廠家就無法追查產生異常產品的正確批次。這樣的后果影響甚為巨大。

因此，我們需要一種能適用于各種生產狀況并能在第一時間快速正確地判定ID編碼是否有問題的裝置或者設備，以避免判讀ID編碼有誤所產生的不良后果。

發明內容

為克服現有技術所存在的缺陷，現提供一種ID編碼誤差判讀尺，包括：

具有極限邊界的對照本體，極限邊界具有用于判讀ID編碼單元邊界的界定尺寸；以及

設于對照本體上、且位于極限邊界界定尺寸之內的二維檢驗矩陣圖，所述二維檢驗矩陣圖具有用于判讀所述ID編碼單元中各個ID編碼單體的單體限定尺寸。

本發明的有益效果在于：通過一具有單體限定尺寸及界定尺寸的測量工具作為檢測的標準，以有效避免判讀ID編碼有誤所產生的不良后果。

本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于：

ID編碼單體為未判讀的單個ID編碼標記；

ID編碼單元由ID編碼單體矩陣排布構成。

本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于：

對照本體為透明的投影片。

本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于：

二維檢驗矩陣圖的單體限定尺寸包括：與ID編碼單元邊界一致的矩陣邊界、與ID編碼單體對應并矩陣排布的單體最小范圍以及與ID編碼單體對應并矩陣排布的單體最大范圍。

本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于：

單體最小范圍的具體數值為標準ID編碼單體大小的80％；單體最大范圍的具體數值為標準ID編碼單體大小的100％。

本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于：

極限邊界的界定尺寸包括：距離二維檢驗矩陣圖的外圍四周相當于兩個標準ID編碼單體大小的凈空邊界，凈空邊界與二維檢驗矩陣圖外圍四周的距離小于或等于100um；以及基于凈空邊界制定的變形偏移邊界。

本發明ID編碼誤差判讀尺，其進一步改進在于：

變形偏移邊界為一端偏離凈空邊界正三度以及負三度而形成的邊界范圍。

本發明還提供一種利用ID誤差判讀尺的判讀方法，該判讀方法包括以下步驟：

1)現場監視器拍攝下實際所要判讀的ID編碼單元并形成圖像；

2)根據實際所要判讀的ID編碼單元，制作與實際ID編碼單元同比例且如權利要求7的ID編碼誤差判讀尺；

3)將ID編碼誤差判讀尺中的對照本體與拍攝圖像進行對比，并依據一判定準則對ID編碼單元進行檢驗判讀。

4)從制程上排除被判讀為不合格ID編碼所對應的產品。

本發明利用ID誤差判讀尺的判讀方法，其進一步改進在于：

判定準則包括：

a.被判讀的所有ID編碼單體是否均形成矩陣排布，每個ID編碼單體是否處于對應的單體最大范圍內；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。

b.被判讀的ID編碼單體是否大于單體最小范圍并且是否小于或等于單體最大范圍；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。

c.被判讀ID編碼單元的邊緣是否與所述凈空邊界有兩個標準ID編碼單體以上的距離，并且判讀該距離是否小于或等于100um；若是，則通過此項準則；若否，則判定為不合格。