[發(fā)明專利]ID編碼誤差判讀尺及判讀方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410230672.1
• 申請(qǐng)日: 2014-05-28
• 公開（公告）號(hào): CN104006742B
• 公開（公告）日: 2017-01-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳韋良;徐勇;邱圣富;邱宗文
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海和輝光電有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/00
• 分類號(hào): G01B11/00
• 代理公司: 上海唯源專利代理有限公司31229
• 代理人: 曾耀先

1.一種ID編碼誤差判讀尺，其特征在于包括：

具有極限邊界的對(duì)照本體,所述極限邊界具有用于判讀ID編碼單元邊界的界定尺寸；以及

設(shè)于所述對(duì)照本體上、且位于所述極限邊界界定尺寸之內(nèi)的二維檢驗(yàn)矩陣圖，所述二維檢驗(yàn)矩陣圖具有用于判讀所述ID編碼單元中各個(gè)ID編碼單體的單體限定尺寸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種誤差判讀尺，其特征在于：

所述ID編碼單體為未判讀的單個(gè)ID編碼標(biāo)記；

所述ID編碼單元由所述ID編碼單體矩陣排布構(gòu)成。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種誤差判讀尺，其特征在于：

所述對(duì)照本體為透明的投影片。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種誤差判讀尺，其特征在于：

所述二維檢驗(yàn)矩陣圖的單體限定尺寸包括：

與所述ID編碼單元邊界一致的矩陣邊界；

與所述ID編碼單體對(duì)應(yīng)并矩陣排布的單體最小范圍；以及

與所述ID編碼單元對(duì)應(yīng)并矩陣排布的單體最大范圍。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種誤差判讀尺，其特征在于：

所述單體最小范圍的具體數(shù)值為標(biāo)準(zhǔn)ID編碼單體大小的80％；

所述單體最大范圍的具體數(shù)值為標(biāo)準(zhǔn)ID編碼單體大小的100％。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種誤差判讀尺，其特征在于：

所述極限邊界的界定尺寸包括：

距離所述二維檢驗(yàn)矩陣圖的外圍四周相當(dāng)于兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)ID編碼單體大小的凈空邊界，所述凈空邊界與所述二維檢驗(yàn)矩陣圖外圍四周的距離小于或等于100um；

以及基于所述凈空邊界制定的變形偏移邊界。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種誤差判讀尺，其特征在于：

所述變形偏移邊界為一端偏離所述凈空邊界正三度以及負(fù)三度而形成的邊界范圍。

8.一種利用ID誤差判讀尺的判讀方法，其特征在于包括以下步驟：

1)現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)視器拍攝下實(shí)際所要判讀的ID編碼單元并形成圖像；

2)根據(jù)實(shí)際所要判讀的所述ID編碼單元的大小，制作與實(shí)際所述ID編碼單元同比例且如權(quán)利要求7所述的ID編碼誤差判讀尺；

3)將所述ID編碼誤差判讀尺中的所述對(duì)照本體與拍攝的圖像進(jìn)行對(duì)比，并依據(jù)一判定準(zhǔn)則對(duì)所述ID編碼單元進(jìn)行檢驗(yàn)判讀；

4)從制程上排除被判讀為不合格ID編碼單元所對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種判讀方法，其特征在于：

所述判定準(zhǔn)則包括：

a.被判讀的所有ID編碼單體是否形成矩陣排布，每個(gè)所述ID編碼單體是否處于對(duì)應(yīng)的所述單體最大范圍內(nèi)；若是，則通過此項(xiàng)準(zhǔn)則；若否，則判定為不合格；

b.被判讀的所述ID編碼單體是否大于所述單體最小范圍并且是否小于或等于所述單體最大范圍；若是，則通過此項(xiàng)準(zhǔn)則；若否，則判定為不合格；

c.被判讀所述ID編碼單元的邊緣是否與所述凈空邊界有兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)ID編碼單體以上的距離，并且判讀所述距離是否小于或等于100um；若是，則通過此項(xiàng)準(zhǔn)則；若否，則判定為不合格；

d.被判讀所述ID編碼單元的變形偏移是否在所述變形偏移邊界范圍內(nèi)；若是，則通過此項(xiàng)準(zhǔn)則；若否，則判定為不合格；

當(dāng)通過上述所有準(zhǔn)則后，才能判定被判讀的ID編碼為合格；若有其中任一項(xiàng)不合格則判定被判讀的ID編碼為不合格，再執(zhí)行步驟4)。