[發(fā)明專利]一種LED燈具老化實驗設(shè)備及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410229249.X
• 申請日: 2014-05-27
• 公開（公告）號: CN105158707A
• 公開（公告）日: 2015-12-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張芳芳
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫嘉美達(dá)橡塑設(shè)備有限公司
• 主分類號: G01R31/44
• 分類號: G01R31/44
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 徐鵬飛

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及LED燈具生產(chǎn)領(lǐng)域，尤其涉及一種LED燈具老化實驗設(shè)備及方法。

背景技術(shù)

近年來，LED照明產(chǎn)業(yè)的發(fā)展取得了突飛猛進的發(fā)展，隨著全球民眾節(jié)能意識的高漲，以及在相對較高的電價下，促使建筑、商業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域持續(xù)導(dǎo)入LED照明，為應(yīng)對多環(huán)境多領(lǐng)域不同的應(yīng)用特點，各式各樣LED燈具的研發(fā)已經(jīng)逐漸成為各LED燈具生產(chǎn)廠商的主要工作之一。

LED燈具的核心部分是發(fā)光二極管，已經(jīng)不同于傳統(tǒng)的照明燈具，所以它和其他電子產(chǎn)品一樣，在研發(fā)過程中的老化實驗是其可靠性的重要保證，是產(chǎn)品測試必不可少的一步，通過老化實驗可以排除使用中可能產(chǎn)生的故障，有利于產(chǎn)品性能的穩(wěn)定，目前有關(guān)LED燈具的老化實驗設(shè)備并沒有標(biāo)準(zhǔn)化，在產(chǎn)品研發(fā)階段大多采用長時間點亮的傳統(tǒng)方式來進行老化實驗，實際上這種測試方式并不能完全來表征燈具的老化效果，比較片面，而且不易獲得實驗數(shù)據(jù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提出一種LED燈具老化實驗設(shè)備及方法，能夠使LED燈具老化實驗更方便。

為達(dá)此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種LED燈具老化實驗設(shè)備，包括：電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊、主控模塊、定時采樣模塊和性能分析設(shè)備，所述電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊分別與所述主控模塊相連，所述主控模塊與定時采樣模塊相連，所述性能分析設(shè)備與主控模塊相連；所述性能分析設(shè)備中設(shè)置有LED燈具老化標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫，利用定時采樣模塊通過電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊采集待測LED燈具的實驗數(shù)據(jù)，并與所述LED燈具老化標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫相比較，得到所述待測LED燈具的老化實驗結(jié)果。

其中，所述主控模塊包括微處理器。

其中，所述溫度檢測模塊包括溫度傳感器和溫度檢測芯片，所述溫度傳感器和溫度檢測芯片有線連接。

其中，還包括顯示器，用于查看實驗數(shù)據(jù)或?qū)嶒瀳D表。

一種LED燈具老化實驗方法，適用于上述的一種LED燈具老化實驗設(shè)備，包括：

步驟c、將待測LED燈具連接到所述LED燈具老化實驗設(shè)備上，通過主控模塊設(shè)定實驗溫度，利用定時采樣模塊采集LED燈具的實驗數(shù)據(jù)；

步驟d、將所述定時采樣模塊采集到的實驗數(shù)據(jù)與預(yù)先建立的電壓-電流曲線圖比較，由性能分析設(shè)備得到所述待測LED燈具的老化實驗結(jié)果。

其中，在所述步驟c之前，還包括：

步驟a、采集LED燈具老化數(shù)據(jù)，建立LED燈具老化標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫；

步驟b、根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫內(nèi)的數(shù)據(jù)制作常溫、高溫及低溫時的電壓-電流曲線圖。

其中，所述設(shè)定實驗溫度具體為：設(shè)定實驗時LED燈具所在環(huán)境的溫度為常溫、高溫或低溫。

其中，所述實驗數(shù)據(jù)包括：實驗電流、實驗電壓及實驗溫度數(shù)據(jù)。

其中，所述步驟a具體包括：

步驟a1、采集LED燈具老化數(shù)據(jù)，包括LED燈具型號、實驗電壓、實驗電流及實驗溫度數(shù)據(jù)；

步驟a2、對所述實驗電壓、實驗電流求平均值，對實驗溫度計算溫度補償系數(shù)，所述溫度補償系數(shù)用于將不同溫度下的實驗數(shù)據(jù)相互換算；

步驟a3、建立LED燈具老化標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫。

其中，所述常溫為20℃，所述高溫為60℃，所述低溫為-15℃。

本發(fā)明的有益效果為：一種LED燈具老化實驗設(shè)備，包括：電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊、主控模塊、定時采樣模塊和性能分析設(shè)備，所述電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊分別與所述主控模塊相連，所述主控模塊與定時采樣模塊相連，所述性能分析設(shè)備與主控模塊相連；所述性能分析設(shè)備中設(shè)置有LED燈具老化標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫，利用定時采樣模塊通過電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊采集待測LED燈具的實驗數(shù)據(jù)，并與所述LED燈具老化標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫相比較，得到所述待測LED燈具的老化實驗結(jié)果，本發(fā)明將各功能進行模塊化處理，使LED燈具老化實驗更方便，增加了設(shè)備的適用性和可擴展性，本發(fā)明中的定時采樣模塊和性能分析設(shè)備實現(xiàn)了對老化實驗參數(shù)的設(shè)置、對實驗數(shù)據(jù)的收集和后期分析。

附圖說明

圖1是本發(fā)明具體實施方式中提供的LED燈具老化實驗設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明具體實施方式中提供的LED燈具老化實驗方法的流程圖；

圖3是本發(fā)明具體實施方式中提供的建立標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫的方法流程圖。

具體實施方式

下面結(jié)合圖1-圖3并通過具體實施方式來進一步說明本發(fā)明的技術(shù)方案。