[發明專利]一種LED燈具老化實驗設備及方法

在審

• 申請號: 201410229249.X
• 申請日: 2014-05-27
• 公開（公告）號: CN105158707A
• 公開（公告）日: 2015-12-16
• 發明（設計）人: 張芳芳
• 申請（專利權）人: 無錫嘉美達橡塑設備有限公司
• 主分類號: G01R31/44
• 分類號: G01R31/44
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 徐鵬飛

1.一種LED燈具老化實驗設備，其特征在于，包括：電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊、主控模塊、定時采樣模塊和性能分析設備，所述電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊分別與所述主控模塊相連，所述主控模塊與定時采樣模塊相連，所述性能分析設備與主控模塊相連；所述性能分析設備中設置有LED燈具老化標準數據庫，利用定時采樣模塊通過電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊采集待測LED燈具的實驗數據，并與所述LED燈具老化標準數據庫相比較，得到所述待測LED燈具的老化實驗結果。

2.根據權利要求1所述的一種LED燈具老化實驗設備，其特征在于，所述主控模塊包括微處理器。

3.根據權利要求1所述的一種LED燈具老化實驗設備，其特征在于，所述溫度檢測模塊包括溫度傳感器和溫度檢測芯片，所述溫度傳感器和溫度檢測芯片有線連接。

4.根據權利要求1所述的一種LED燈具老化實驗設備，其特征在于，還包括顯示器，用于查看實驗數據或實驗圖表。

5.一種LED燈具老化實驗方法，其特征在于，適用于權利要求1-4任一項所述的一種LED燈具老化實驗設備，包括：

步驟c、將待測LED燈具連接到所述LED燈具老化實驗設備上，通過主控模塊設定實驗溫度，利用定時采樣模塊通過所述電壓檢測模塊、電流檢測模塊、溫度檢測模塊采集LED燈具的實驗數據；

步驟d、將所述定時采樣模塊采集到的實驗數據與預先建立的電壓-電流曲線圖比較，由性能分析設備得到所述待測LED燈具的老化實驗結果。

6.根據權利要求5所述的一種LED燈具老化實驗方法，其特征在于，在所述步驟c之前，還包括：

步驟a、采集LED燈具老化數據，建立LED燈具老化標準數據庫；

步驟b、根據所述標準數據庫內的數據制作常溫、高溫及低溫時的電壓-電流曲線圖。

7.根據權利要求5所述的一種LED燈具老化實驗方法，其特征在于，所述設定實驗溫度具體為：設定實驗時LED燈具所在環境的溫度為常溫、高溫或低溫。

8.根據權利要求5所述的一種LED燈具老化實驗方法，其特征在于，所述實驗數據包括：實驗電流、實驗電壓及實驗溫度數據。

9.根據權利要求6所述的一種LED燈具老化實驗方法，其特征在于，所述步驟a具體包括：

步驟a1、采集LED燈具老化數據，包括LED燈具型號、實驗電壓、實驗電流及實驗溫度數據；

步驟a2、對所述實驗電壓、實驗電流求平均值，對實驗溫度計算溫度補償系數，所述溫度補償系數用于將不同溫度下的實驗數據相互換算；

步驟a3、建立LED燈具老化標準數據庫。

10.根據權利要求6所述的一種LED燈具老化實驗方法，其特征在于，所述常溫為20℃，所述高溫為60℃，所述低溫為-15℃。