[發明專利]半導體測試裝置有效
| 申請號： | 201410225276.X | 申請日： | 2014-05-26 |
| 公開（公告）號： | CN104810060B | 公開（公告）日： | 2020-07-28 |
| 發明（設計）人： | 李完燮 | 申請（專利權）人： | 愛思開海力士有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/08 | 分類號： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;許偉群 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 測試 裝置 | ||
1.一種半導體測試裝置，包括：
時鐘發生器，適合于在測試模式期間響應于測試模式信號而產生具有預定周期的內部時鐘信號；
數據發生器，適合于響應于與所述內部時鐘信號的上升沿同步的上升時鐘和與所述內部時鐘信號的下降沿同步的下降時鐘而產生內部數據；以及
數據鎖存電路，適合于響應于所述內部時鐘信號而鎖存所述內部數據，且向內部邏輯電路輸出鎖存的內部數據，
其中，所述數據鎖存電路鎖存與所述上升時鐘的上升沿同步的內部數據和鎖存與所述下降時鐘的上升沿同步的內部數據。
2.如權利要求1所述的半導體測試裝置，其中，所述數據發生器與所述上升時鐘的上升沿和所述下降時鐘的上升沿同步地產生所述內部數據。
3.如權利要求1所述的半導體測試裝置，其中，所述數據發生器包括通過所述上升時鐘和所述下降時鐘驅動的多個觸發器。
4.如權利要求3所述的半導體測試裝置，其中，所述觸發器中的每個與所述上升時鐘的上升沿和所述下降時鐘的上升沿同步地操作。
5.如權利要求3所述的半導體測試裝置，其中，所述多個觸發器中的每個接收設定信號和復位信號作為輸入信號，且所述觸發器彼此獨立地操作。
6.如權利要求1所述的半導體測試裝置，其中，所述數據鎖存電路鎖存與所述上升時鐘的上升沿同步的第一內部數據并輸出第一輸入數據，以及鎖存與所述下降時鐘的上升沿同步的第二內部數據并輸出第二輸入數據。
7.如權利要求6所述的半導體測試裝置，其中，所述第一輸入數據和所述第二輸入數據中的每個是雙數據速率DDR數據。
8.如權利要求1所述的半導體測試裝置，其中，所述測試模式在晶片級下執行。
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