[發明專利]采用傾斜并旋轉試樣測量反極圖的方法

有效

• 申請號: 201410223314.8
• 申請日: 2014-05-23
• 公開（公告）號: CN104062311B
• 公開（公告）日: 2017-01-18
• 發明（設計）人: 周順兵;王志奮;陳士華;姚中海
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵（集團）公司
• 主分類號: G01N23/207
• 分類號: G01N23/207
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司42104
• 代理人: 胡鎮西,孫林

1.一種采用傾斜并旋轉試樣測量反極圖的方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)各個衍射峰峰位置的確定：采取對稱衍射方法獲得一張試樣及標樣的衍射圖譜，來確定若干個{hkl}衍射峰峰位置，即2θ位置，及衍射峰左右兩邊的背底位置；

2)把試樣放在X-射線衍射儀測量裝置的1θ軸上，探測器置于2θ軸上，首先讓1θ軸和2θ軸均處于0°初始位置；

3)讓1θ軸和2θ軸按1:2的角速度之比，將探測器依次旋轉到步驟1)中所確定的衍射峰峰位置，探測器每到達一個衍射峰峰位置，探測器停止，讓1θ軸上的試樣按照步進速度每步0.1～1°從-10°位置順時針旋轉到+10°位置，1θ軸每旋轉0.1～1°后停下，然后讓試樣以試樣法線為旋轉軸旋轉360°，同時計算機記錄1θ軸每一步進下且當試樣旋轉360°的過程中探測器上衍射峰的X-射線的強度I⁰_試樣；

4)讓1θ軸和2θ軸按1:2的角速度之比，將探測器依次旋轉到步驟1)中所確定的衍射峰左右兩邊的背底位置，探測器每到達一個背底位置，探測器停止，讓1θ軸上的試樣按照步進速度每步0.1～1°從-10°位置順時針旋轉到+10°位置，1θ軸每旋轉0.1～1°后停下，然后讓試樣以試樣法線為旋轉軸旋轉360°，同時計算機記錄1θ軸上每一步進下且試樣以試樣法線為旋轉軸旋轉360°的過程中探測器上的X-射線的強度I_{試樣背底左}和I_{試樣背底右}，將I_{試樣背底左}和I_{試樣背底右}取平均值即為1θ軸每一步進下且當試樣旋轉360°的過程中探測器上衍射峰的背底強度I_試樣背底；

5)計算出試樣旋轉時在不同步進位置下{hkl}衍射峰的凈強度I_試樣hkl＝I⁰_試樣-I_試樣背底；

6)將試樣從1θ軸上卸下，放入標樣，按步驟2)～5)的測量步驟測定標樣旋轉時在不同步進位置下{hkl}衍射峰的凈強度的I_標樣hkl；

7)計算出試樣與標樣旋轉時在不同步進位置下的衍射峰凈強度的比值I_試樣hkl/I_標樣hkl，并將所有的比值取平均值即為該{hkl}衍射峰的極密度值；同理計算出其它{hkl}衍射峰的極密度值；

8)將步驟7)中得到的各個{hkl}衍射峰的極密度值標在試樣的反極圖上，完成測量過程。

2.根據權利要求1所述的采用傾斜并旋轉試樣測量反極圖的方法，其特征在于：所述步驟3)和4)中步進速度為每步0.5～1°。