[發明專利]顯示器陣列基板的外圍測試線路以及液晶顯示面板

有效

• 申請號: 201410216387.4
• 申請日: 2014-05-21
• 公開（公告）號: CN104035217A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: 付延峰
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;劉華聯

技術領域

本發明涉及液晶顯示器領域，尤其涉及一種顯示器陣列基板的外圍測試線路以及液晶顯示面板。

背景技術

一般，在制作液晶顯示器的前段過程中，使用外延的方法在基板上形成數百萬顆的薄膜晶體管以作為控制單元，然而，若有部分的薄膜晶體管在制作時質量達不到預期效果，導致無法表現出其開關控制特性，則會產生如亮點或暗點的缺陷，大幅地降低液晶顯示器的質量。因此，必須對薄膜晶體管進行有效地測試，以維持液晶顯示器的質量。

在現有的對液晶顯示器的薄膜晶體管進行測試的方案中，TFT陣列基板外圍區域的測試信號線與測試墊的連接結構具體可參考圖1。如圖1所示，基板外圍區域的測試信號線M1通過ITO與測試信號線M1連接的鈍化層過孔V1、以及ITO與測試墊引線M2連接的鈍化層過孔V2與測試墊引線M2連接，進而連接到相應的測試墊P上。從圖中可以看出，在不同的測試信號線M1通過測試墊引線M2連接到相應的測試墊P的過程中，測試墊引線M2必然會橫跨其他的測試信號線M1，在測試信號線M1與測試墊引線M2交界跨接的過程中容易造成靜電施放而使測試信號線M1和測試墊引線M2短接，導致測試信號線短路而無法檢測，因而降低產品的合格率。

因此，需要一種解決方案來改善現有技術中測試信號線和測試墊引線容易短接的問題，降低靜電施放的擊傷風險，提升產品測試準確率，進而提高產品合格率。

發明內容

本發明所要解決的技術問題之一是需要提供一種顯示器陣列基板的外圍測試線路，該外圍測試線路能夠解決測試信號線和測試墊引線容易短接的問題，降低靜電施放的擊傷風險。另外，還提供了一種顯示器陣列基板和液晶顯示面板。

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種顯示器陣列基板的外圍測試線路，包括：多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成；多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊；多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。

在一個實施例中，每條測試墊引線通過第一鈍化層過孔和第二鈍化層過孔與相應組的第一測試信號線非重疊連接，且每條測試墊引線通過第三鈍化層過孔和第四鈍化層過孔與相應組的第二測試信號線非重疊連接，其中，第一鈍化層過孔為ITO層與該第一測試信號線連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔為所述ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔為另一ITO層與該第二測試信號線連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔為所述另一ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔。

在一個實施例中，多條測試墊引線以相互平行錯位的方式排列。

在一個實施例中，每組的第一測試信號線和第二測試信號線分別與相應的測試墊引線垂直連接。

根據本發明的另一方面，還提供了一種顯示器陣列基板，包括：顯示區；位于所述顯示區周圍的外圍測試線路，該外圍測試線路包括：多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成；多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊；多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。

在一個實施例中，每條測試墊引線通過第一鈍化層過孔和第二鈍化層過孔與相應組的第一測試信號線非重疊連接，且每條測試墊引線通過第三鈍化層過孔和第四鈍化層過孔與相應組的第二測試信號線非重疊連接，其中，第一鈍化層過孔為ITO層與該第一測試信號線連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔為所述ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔為另一ITO層與該第二測試信號線連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔為所述另一ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔。

在一個實施例中，多條測試墊引線以相互平行錯位的方式排列。

在一個實施例中，每組的第一測試信號線和第二測試信號線分別與相應的測試墊引線垂直連接。

根據本發明的另一方面，還提供了一種液晶顯示面板，包括上述的顯示器陣列基板。

與現有技術相比，本發明的一個或多個實施例可以具有如下優點：

本發明的外圍測試線路，通過改變測試信號線與測試墊的連接方式，避免測試墊引線與測試信號線跨界現象的出現，且在測試墊引線與測試信號線連接處，通過過孔使測試墊引線不跨界到測試信號線。降低靜電釋放的擊傷風險，提升產品測試準確率，提高產品良率