[發(fā)明專利]顯示器陣列基板的外圍測試線路以及液晶顯示面板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410216387.4 | 申請日： | 2014-05-21 |
| 公開（公告）號： | CN104035217A | 公開（公告）日： | 2014-09-10 |
| 發(fā)明（設計）人： | 付延峰 | 申請（專利權）人： | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京聿宏知識產(chǎn)權代理有限公司 11372 | 代理人： | 吳大建;劉華聯(lián) |
| 地址： | 518132 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 顯示器 陣列 外圍 測試 線路 以及 液晶顯示 面板 | ||
1.一種顯示器陣列基板的外圍測試線路，其特征在于，包括：
多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成；
多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊；
多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。
2.根據(jù)權利要求1所述的外圍測試線路，其特征在于，每條測試墊引線通過第一鈍化層過孔和第二鈍化層過孔與相應組的第一測試信號線非重疊連接，且每條測試墊引線通過第三鈍化層過孔和第四鈍化層過孔與相應組的第二測試信號線非重疊連接，其中，
第一鈍化層過孔為ITO層與該第一測試信號線連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔為所述ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔為另一ITO層與該第二測試信號線連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔為所述另一ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔。
3.根據(jù)權利要求2所述的外圍測試線路，其特征在于，
多條測試墊引線以相互平行錯位的方式排列。
4.根據(jù)權利要求3所述的外圍測試線路，其特征在于，
每組的第一測試信號線和第二測試信號線分別與相應的測試墊引線垂直連接。
5.一種顯示器陣列基板，其特征在于，包括：
顯示區(qū)；
位于所述顯示區(qū)周圍的外圍測試線路，該外圍測試線路包括：
多組測試信號線，每組測試信號線由隔開間隔設置的第一測試信號線和第二測試信號線組成；
多條測試墊引線，每條測試墊引線設置在相應組的第一測試信號線和第二測試信號線的間隔處，且每條測試墊引線與第一測試信號線和第二測試信號線連接、不與其他組的第一測試信號線和第二測試信號線重疊；
多個測試墊，每個測試墊設置在相應的測試墊引線上。
6.根據(jù)權利要求5所述的顯示器陣列基板，其特征在于，每條測試墊引線通過第一鈍化層過孔和第二鈍化層過孔與相應組的第一測試信號線非重疊連接，且每條測試墊引線通過第三鈍化層過孔和第四鈍化層過孔與相應組的第二測試信號線非重疊連接，其中，
第一鈍化層過孔為ITO層與該第一測試信號線連接的鈍化層過孔，第二鈍化層過孔為所述ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔，第三鈍化層過孔為另一ITO層與該第二測試信號線連接的鈍化層過孔，第四鈍化層過孔為所述另一ITO層與該測試墊引線連接的鈍化層過孔。
7.根據(jù)權利要求4所述的顯示器陣列基板，其特征在于，
多條測試墊引線以相互平行錯位的方式排列。
8.根據(jù)權利要求7所述的顯示器陣列基板，其特征在于，
每組的第一測試信號線和第二測試信號線分別與相應的測試墊引線垂直連接。
9.一種液晶顯示面板，其特征在于，包括如權利要求5至8中任一項所述的顯示器陣列基板。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置，例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào)，上述器件或裝置的光學操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學性質(zhì)來修改的；用于上述操作的技術或工藝；變頻；非線性光學；光學
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置，例如，轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制；非線性光學
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制，即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導結(jié)構中的
