[發明專利]離子色譜柱后衍生法測定硅酸根與磷酸根離子的方法

無效

• 申請號: 201410212541.0
• 申請日: 2014-05-19
• 公開（公告）號: CN103983710A
• 公開（公告）日: 2014-08-13
• 發明（設計）人: 賀婕;朱巖
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01N30/02
• 分類號: G01N30/02
• 代理公司: 杭州中成專利事務所有限公司 33212
• 代理人: 唐銀益

1.一種離子色譜柱后衍生法測定硅酸根與磷酸根的方法，其特征在于，先將待測樣品水溶液稀釋一定倍數，而后將溶液進樣，經過一根陰離子交換色譜柱分離洗脫，經酸化的鉬酸鈉溶液衍生，抗壞血酸還原后，產物在近紅外區有較強吸收，由此做到對硅酸根與磷酸根的分離檢測，測定前先將柱后衍生試劑、還原劑濃度和酸度進行調節，以確定衍生化合物具有最大吸收值的濃度，從而獲得較高的檢測限和準確度。

2.根據權利要求1所述的離子色譜柱后衍生法測定硅酸根與磷酸根的方法，其特征在于，利用陰離子交換色譜柱分離樣品中的硅酸根與磷酸根離子。

3.根據權利要求1所述的離子色譜柱后衍生法測定硅酸根與磷酸根的方法，其特征在于，經陰離子交換色譜柱分離后的硅酸根與磷酸根離子在柱后與衍生液酸性鉬酸鈉溶液及還原劑抗壞血酸反應，產物在710nm-810nm具有較強吸收。

4.根據權利要求3所述的離子色譜柱后衍生法測定硅酸根與磷酸根的方法，其特征在于，所述的產物在805nm具有最強的吸收。

5.一種由權利要求1或2或3或4所述的方法應用于測定復雜機制體系中具有紫外可見吸收的無機離子。