[發明專利]高精度雙頭測試探針

在審

• 申請號: 201410205288.6
• 申請日: 2014-05-15
• 公開（公告）號: CN104034927A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: 盧國強
• 申請（專利權）人: 珠海市運泰利自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

技術領域

本發明涉及一種用于電子測試的高精度雙頭測試探針。?

背景技術

測試探針，業內也稱探針，用于PCB板測試時又分為彈簧針(專用針)和通用針。彈簧針在使用時，需要根據所測試的PCB板的布線情況制作測試模具，且一般情況下，一個模具只能測試一種PCB板；通用針在使用時，只需有足夠的點數即可，故現在很多廠家都在使用通用針。彈簧針根據使用情況又分為PCB板探針、ICT探針、BGA探針。PCB板探針主要用于PCB板測試，ICT探針主要用于插件后的在線測試，BGA探針主要用于BGA封裝測試及芯片測試。?

目前針對小測試點（測試點直徑小于0.5mm）、小間距（測試點間距小于1.27mm）、大面積（測試產品面積超過15mm*15mm）、多數量（探針數量超過200Pcs）的測試產品，在行業內主要是采用美國QA公司的Double?ended?socket測試針或X-probe的測試針，其可以做到最小測試間距為31mil的測試點，同時可以兼容自動化設計的需求。?

隨著消費電子產品功能的增加，在產品尺寸減小的情況下，需要測試的功能也隨之增加，就需要在更小的面積上，布置更多的測試點。這就要求縮小測試點的直徑（0.4mm為主，還有大約20%的0.3mm測試點），同時減小間距（縮小到0.6mm，22mil）。這樣的話，行業內常用的Double?ended?socket測試針或X-probe的測試針就無法滿足測試需求（Double?ended?socket測試針最小39mil，X-probe的測試針最小31mil）。同時，這兩種結構的測試針，在工藝上來講，已經無法做到更小的尺寸。?

而更小尺寸的POGO?PIN探針，本身長度太小，常規來講5.7mm左右，針板加工需要非常薄，大約0.5mm，無法做到測試比較大的產品。使用POGO?PIN的夾具，一般都是手動操作的，無法滿足客戶自動化的需求。?

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供一種能很好地解決小測試點、小測試間距、大數量、大面積的電子產品主板的測試及能滿足測試設備的自動化需求的結構簡單的高精度雙頭測試探針。?

本發明所采用的技術方案是：本發明包括呈環柱形的探針主體及分別滑動套設在所述探針主體兩端內的針頭和針尾，在所述探針主體內且在所述針頭和所述針尾之間設置有復位元件，所述探針主體的外徑A的大小為16mil至31mil，測試時，所述針頭和所述針尾能在所述探針主體內滑動。?

優選地，位于所述探針主體內的所述針頭的尾部和所述針尾的尾部均設置有止退臺階。?

優選地，設置有所述針尾的所述探針主體的一端設有收口。?

優選地，所述探針主體上設有與所述針頭的所述止退臺階相適配的限位臺階。?

優選地，所述針頭的頭部和所述針尾的頭部均對稱設置有斜面，所述斜面使所述針頭的頭部和所述針尾的頭部變尖。?

優選地，所述針頭的頭部的所述斜面與所述針頭的軸線的夾角為15°，所述針尾的頭部的所述斜面與所述針尾的軸線的夾角為28°。?

優選地，所述探針主體的長度為20mm或30mm。?

優選地，所述高精度雙頭測試探針的長度為41mm或28mm，壓縮后的長度為34.75mm或23.5mm。?

優選地，所述復位元件為彈簧。?

優選地，所述復位元件為一對同極相對設置的磁柱，一對所述磁柱分別設置在所述針頭和所述針尾的尾部。?

本發明的有益效果是：由于本發明包括呈環柱形的探針主體及分別滑動套設在所述探針主體兩端內的針頭和針尾，在所述探針主體內且在所述針頭和所述針尾之間設置有復位元件，所述探針主體的外徑A的大小為16mil至31mil，測試時，所述針頭和所述針尾能在所述探針主體內滑動，所以，本發明能很好地解決小測試點（最小測試點直徑0.3mm）、小測試間距（最小0.6mm）、大數量（一塊針板探針數量超過200Pcs）、大面積（測試產品的面積超過15mm*15mm）的電子產品主板的測試。?

另外，常規的雙頭針需要采用過盈配靠摩擦力來固定，對探針本身的強度要求很高。所以，無法做到更小的直徑。而本發明采用間隙配合，通過特殊的結構來實現探針的固定，很好地避免了探針對材料本身強度的依賴。使得在保留使用效果的前提下，探針可以做的更小。目前本發明的16mil至31mil的規格并非常規規格，遠遠超過常規的探針的最小規格31mil。?

附圖說明

圖1是本發明的整體結構示意圖；?