[發(fā)明專利]高精度雙頭測(cè)試探針

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410205288.6
• 申請(qǐng)日: 2014-05-15
• 公開（公告）號(hào): CN104034927A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 盧國(guó)強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 珠海市運(yùn)泰利自動(dòng)化設(shè)備有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/067
• 分類號(hào): G01R1/067
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

1.一種高精度雙頭測(cè)試探針，包括呈環(huán)柱形的探針主體（1）及分別滑動(dòng)套設(shè)在所述探針主體（1）兩端內(nèi)的針頭（2）和針尾（3），在所述探針主體（1）內(nèi)且在所述針頭（2）和所述針尾（3）之間設(shè)置有復(fù)位元件，其特征在于：所述探針主體（1）的外徑A的大小為16mil至31mil，測(cè)試時(shí)，所述針頭（2）和所述針尾（3）能在所述探針主體（1）內(nèi)滑動(dòng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：位于所述探針主體（1）內(nèi)的所述針頭（2）的尾部和所述針尾（3）的尾部均設(shè)置有止退臺(tái)階（5）。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：設(shè)置有所述針尾（3）的所述探針主體（1）的一端設(shè)有收口（6）。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：所述探針主體（1）上設(shè)有與所述針頭（2）的所述止退臺(tái)階（5）相適配的限位臺(tái)階（7）。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：所述針頭（2）的頭部和所述針尾（3）的頭部均對(duì)稱設(shè)置有斜面，所述斜面使所述針頭（2）的頭部和所述針尾（3）的頭部變尖。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：所述針頭（2）的頭部的所述斜面與所述針頭（2）的軸線的夾角為15°，所述針尾（3）的頭部的所述斜面與所述針尾（3）的軸線的夾角為28°。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：所述探針主體（1）的長(zhǎng)度為20mm或30mm。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或7所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：所述高精度雙頭測(cè)試探針的長(zhǎng)度為41mm或28mm，壓縮后的長(zhǎng)度為34.75mm或23.5mm。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：所述復(fù)位元件為彈簧（8）。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度雙頭測(cè)試探針，其特征在于：所述復(fù)位元件為一對(duì)同極相對(duì)設(shè)置的磁柱（9），一對(duì)所述磁柱（9）分別設(shè)置在所述針頭（2）和所述針尾（3）的尾部。