[發(fā)明專利]檢測(cè)裝置、供電系統(tǒng)與檢測(cè)裝置的控制方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410196813.2
• 申請(qǐng)日: 2014-05-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104167825B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-09-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 大前宇一郎;宮本宗
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 索尼公司
• 主分類號(hào): H02J50/60
• 分類號(hào): H02J50/60;H02J7/00;G01V3/12
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

本發(fā)明公開(kāi)了檢測(cè)裝置、供電系統(tǒng)與檢測(cè)裝置的控制方法。其中，該檢測(cè)裝置包括：由以下各項(xiàng)構(gòu)成的測(cè)量線圈：第一部分線圈，由供應(yīng)給被配置為接收電力的受電線圈的磁場(chǎng)對(duì)第一部分線圈感應(yīng)特定方向上的電流，第二部分線圈，由磁場(chǎng)對(duì)該第二部分線圈感應(yīng)特定方向上的電流，以及第三部分線圈，該第三部分線圈布置在該第一和第二部分線圈之間，由磁場(chǎng)對(duì)該第三部分線圈感應(yīng)特定方向的反方向上的電流；被配置為測(cè)量所述測(cè)量線圈的電壓作為測(cè)量線圈電壓的測(cè)量單元；以及被配置為基于所述測(cè)量線圈電壓來(lái)檢測(cè)磁場(chǎng)內(nèi)的異物的異物檢測(cè)單元。

相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用

該申請(qǐng)要求于2013年5月16日提交的日本在先專利申請(qǐng)JP2013-103631的權(quán)益，其全部?jī)?nèi)容通過(guò)引用并入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種檢測(cè)裝置、供電系統(tǒng)與檢測(cè)裝置的控制方法，具體地涉及檢測(cè)磁場(chǎng)內(nèi)的異物的一種檢測(cè)裝置、供電系統(tǒng)與檢測(cè)裝置的控制方法。

背景技術(shù)

近年來(lái)，以電非接觸的方式向諸如蜂窩電話、便攜式音樂(lè)播放器等消費(fèi)電子(CE)裝置供電的供電系統(tǒng)受到關(guān)注。這樣的供電系統(tǒng)已經(jīng)被稱為非接觸供電系統(tǒng)、非接觸電力傳輸系統(tǒng)或無(wú)線供電系統(tǒng)。這樣的系統(tǒng)使二次側(cè)裝置(例如，電子裝置等)能夠使用諸如將二次側(cè)裝置放置在一次側(cè)裝置(例如，供電裝置等)上這樣的簡(jiǎn)單的方法來(lái)充電。也就是說(shuō)，這樣的系統(tǒng)消除了電子裝置和供電裝置之間的端子連接。

作為以這樣的非接觸的方式執(zhí)行供電的方法，電磁感應(yīng)已被廣泛應(yīng)用。最近，利用諧振現(xiàn)象采用磁場(chǎng)諧振(或磁諧振)的非接觸供電系統(tǒng)也受到了關(guān)注。

使用磁場(chǎng)諧振方法的非接觸供電系統(tǒng)比電磁感應(yīng)方法優(yōu)點(diǎn)在于利用被稱為諧振現(xiàn)象的原理可在其間具有更大距離的設(shè)備之間執(zhí)行電力的傳輸。另外，使用磁場(chǎng)諧振方法的非接觸供電系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)使得甚至當(dāng)在用作供電源的供電線圈與用作供電目的地的受電線圈之間的軸向匹配很差時(shí)電力傳輸效率(即，供電效率)也不會(huì)降低。

然而，事實(shí)仍然是：磁場(chǎng)諧振方法和電磁感應(yīng)方法都是利用用作供電源的供電線圈和用作供電目的地的受電線圈之間的磁耦合的非接觸供電系統(tǒng)。

順便說(shuō)一句，作為非接觸供電系統(tǒng)中的重要因素之一，已經(jīng)開(kāi)發(fā)了關(guān)于由于磁場(chǎng)線而可以發(fā)熱的諸如金屬、磁性材料、磁體等異物的發(fā)熱對(duì)策。在電磁感應(yīng)方法或磁場(chǎng)諧振方法中當(dāng)異物進(jìn)入非接觸供電系統(tǒng)中的供電線圈和受電線圈之間的間隙時(shí)，存在異物由于磁場(chǎng)線穿過(guò)該異物而發(fā)熱的可能性。由于在磁場(chǎng)線穿過(guò)的金屬異物處產(chǎn)生的過(guò)電流損耗、在磁場(chǎng)線穿過(guò)的異物磁性材料或異物磁體等處產(chǎn)生磁滯損耗等導(dǎo)致的這樣的異物發(fā)熱。

由于異物發(fā)熱可以導(dǎo)致供電裝置或電子裝置出現(xiàn)故障或損壞等，因此防止異物發(fā)熱可以說(shuō)是非接觸供電系統(tǒng)中的主要問(wèn)題。

雖然存在涉及添加溫度傳感器以檢測(cè)異物發(fā)熱來(lái)處理這樣的發(fā)熱的技術(shù)，但是因?yàn)檫@樣的技術(shù)檢測(cè)已經(jīng)發(fā)熱的異物的溫度，所以這樣的技術(shù)遠(yuǎn)不是異物發(fā)熱的基本解決方案。也就是說(shuō)，一種在異物過(guò)度發(fā)熱之前能夠檢測(cè)異物的方法作為檢測(cè)由于磁場(chǎng)線而可以發(fā)熱的異物的方法是可期望的。

因此，已經(jīng)提出了一種用于通過(guò)監(jiān)控當(dāng)金屬異物進(jìn)入供電側(cè)和受電側(cè)之間時(shí)其將改變的電參數(shù)(電流、電壓等)來(lái)確定是否存在金屬異物的技術(shù)。這樣的技術(shù)能夠在異物過(guò)度發(fā)熱之前檢測(cè)是否存在異物。具體地，已經(jīng)提出了一種用于通過(guò)在供電側(cè)和受電側(cè)之間通信時(shí)監(jiān)控幅度和相位的變化來(lái)檢測(cè)金屬異物的技術(shù)(例如，參見(jiàn)日本未審查專利申請(qǐng)公開(kāi)No.2008-206231)。另外，已經(jīng)提出了一種用于根據(jù)過(guò)電流損耗檢測(cè)金屬異物的方法(例如，參見(jiàn)日本未審查的專利申請(qǐng)公開(kāi)No.2001-275280)。

發(fā)明內(nèi)容