[發明專利]檢測裝置、供電系統與檢測裝置的控制方法

有效

• 申請號: 201410196813.2
• 申請日: 2014-05-09
• 公開（公告）號: CN104167825B
• 公開（公告）日: 2018-09-14
• 發明（設計）人: 大前宇一郎;宮本宗
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: H02J50/60
• 分類號: H02J50/60;H02J7/00;G01V3/12
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種檢測裝置，包括：

測量線圈，由以下各項構成：

第一部分線圈，由供應給被配置為接收電力的受電線圈的磁場對所述第一部分線圈感應特定方向上的電流，

第二部分線圈，由所述磁場對所述第二部分線圈感應所述特定方向上的電流，以及

第三部分線圈，所述第三部分線圈布置在所述第一部分線圈和所述第二部分線圈之間，由所述磁場對所述第三部分線圈感應所述特定方向的反方向上的電流；

測量單元，被配置為測量所述測量線圈的電壓作為測量線圈電壓；以及

異物檢測單元，被配置為基于所述測量線圈電壓來檢測所述磁場內的異物，

其中，所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈的各自線圈表面的面積不同，并且其中，所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈中的兩個線圈布置成夾著所述受電線圈的最外邊緣和最內邊緣的中間的位置。

2.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述測量單元進一步測量所述受電線圈的電壓和電流；

以及其中，所述異物檢測單元從所述測量線圈電壓和所述受電線圈的所述電壓和所述電流獲取所述受電線圈的阻抗，并基于這種阻抗來檢測所述異物。

3.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述測量單元進一步測量所述受電線圈的電壓作為受電線圈電壓；

以及其中，所述異物檢測單元獲取所述測量線圈電壓與所述受電線圈電壓之間的電壓比，并基于這樣的電壓比來檢測所述異物。

4.根據權利要求3所述的檢測裝置，其中，所述受電線圈按順序接收電能不同的第一電力和第二電力；

以及其中，所述異物檢測單元基于在已經接收所述第一電力的情況下獲取的所述電壓比與在已經接收所述第二電力的情況下獲取的所述電壓比之間的差來檢測所述異物。

5.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈串聯連接。

6.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈中的至少一個布置在所述受電線圈的最外邊緣的外側。

7.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈中的至少一個布置在所述受電線圈的最內邊緣的內側。

8.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈大體上布置在同一平面上。

9.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈布置在所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈的線圈表面的中心大體上一致的位置。

10.根據權利要求1所述的檢測裝置，進一步包括：

傳輸單元，被配置為在已經檢測到所述異物的情況下將用于請求減小所述電力的電能的控制信號傳輸至被配置為供應所述電力的供電裝置。

11.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，布置所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈以在所述第一部分線圈、所述第二部分線圈以及所述第三部分線圈之間產生一定的間隙。