[發(fā)明專利]分立組件后向可追溯性和半導(dǎo)體裝置前向可追溯性有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410195056.7 | 申請日: | 2010-10-04 |
| 公開(公告)號: | CN104022058B | 公開(公告)日: | 2017-11-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | D.查維特;C.俞;H.塔基亞;F.盧;董至強(qiáng);J.史 | 申請(專利權(quán))人: | 晟碟半導(dǎo)體(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L23/544 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所11105 | 代理人: | 萬里晴 |
| 地址: | 200241 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分立 組件 追溯 半導(dǎo)體 裝置 | ||
1.一種用于跟蹤半導(dǎo)體封裝體的系統(tǒng),包括:
半導(dǎo)體裝置,所述裝置包括:
基板;以及
在所述基板上安裝的一個或多個半導(dǎo)體裸芯;以及
在所述半導(dǎo)體裝置的表面上提供唯一的標(biāo)識符,所述唯一標(biāo)識符將所述半導(dǎo)體裝置與所有其他半導(dǎo)體裝置唯一地區(qū)分,且所述唯一標(biāo)識符允許后向可追溯性來標(biāo)識在半導(dǎo)體裝置中使用的特定半導(dǎo)體裸芯,且所述唯一標(biāo)識符通過在處理和/或測試工具處由處理和/或測試工具處的掃描器掃描該唯一標(biāo)識符、以存儲對半導(dǎo)體裝置和半導(dǎo)體裸芯進(jìn)行的工藝和/或測試,來允許前向可追溯性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的系統(tǒng),其中,所述唯一的標(biāo)識符是在所述半導(dǎo)體裝置的表面上提供的字母數(shù)字碼。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的系統(tǒng),其中,所述唯一的標(biāo)識符是在所述半導(dǎo)體裝置的表面上提供的機(jī)器可讀碼。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的系統(tǒng),其中,所述唯一標(biāo)識符還標(biāo)識以下的至少一個:在半導(dǎo)體裝置中使用的半導(dǎo)體裸芯的制造商、制造半導(dǎo)體裸芯的時間和地點(diǎn)、以及在半導(dǎo)體裸芯被并入到半導(dǎo)體裝置中之前對半導(dǎo)體裸芯進(jìn)行的工藝。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的系統(tǒng),其中所述唯一標(biāo)識符包括:
制造所述半導(dǎo)體裝置的時間和地點(diǎn),
所述半導(dǎo)體裝置來自的裝置組裝件子批,以及
ID,區(qū)分用相同時間和地點(diǎn)信息以及相同裝置組裝件子批信息而制造的每個裝置。
6.根據(jù)權(quán)利要求1的系統(tǒng),其中所述唯一標(biāo)識符具有YWWDMLLXXX的格式,其中:
Y表示年份的最后位;
WW表示該年內(nèi)的周編號;
D表示該周內(nèi)的日;
M表示半導(dǎo)體封裝體制造廠;
LL表示指定每個裝置組裝件子批的字母數(shù)字2-位ID;以及
XXX表示區(qū)分用相同日期、地點(diǎn)和裝置組裝件子批信息而制造的每個裝置的字母數(shù)字3-位唯一ID。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-3的系統(tǒng),其中,所述半導(dǎo)體封裝體是非易失性存儲器封裝體。
8.一種用于跟蹤半導(dǎo)體封裝體的系統(tǒng),包括:
半導(dǎo)體裝置,所述裝置包括:
基板,
在所述基板上安裝的一個或多個半導(dǎo)體裸芯,以及
無源組件;以及
在所述半導(dǎo)體裝置的表面上提供唯一標(biāo)識符,所述唯一標(biāo)識符將所述半導(dǎo)體裝置與所有其他半導(dǎo)體裝置唯一地區(qū)分,且所述唯一標(biāo)識符允許后向可追溯性來標(biāo)識在半導(dǎo)體裝置中使用的特定半導(dǎo)體裸芯,且所述唯一標(biāo)識符通過在處理和/或測試工具處由處理和/或測試工具處的掃描器掃描該標(biāo)識符、以存儲對半導(dǎo)體裝置和半導(dǎo)體裸芯進(jìn)行的工藝和/或測試,來允許前向可追溯性;
計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),包括標(biāo)識以下中的至少一個的存儲信息:
i)在所述半導(dǎo)體裝置中使用的基板,
ii)在所述半導(dǎo)體裝置中使用的一個或多個半導(dǎo)體裸芯,
iii)在所述半導(dǎo)體裝置中使用的所述無源組件,
且所述計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),包括標(biāo)識以下中的至少一個的存儲信息:
iv)處理所述半導(dǎo)體裝置的工具,
v)測試所述半導(dǎo)體裝置的工具,
vi)在測試所述半導(dǎo)體裝置之后,所述半導(dǎo)體裝置的分箱,以及
vii)所述半導(dǎo)體裝置是否在測試操作之后經(jīng)過回收操作以及經(jīng)過多少次回收操作。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的系統(tǒng),其中,在用于制造執(zhí)行系統(tǒng)的數(shù)據(jù)庫內(nèi)使用所述半導(dǎo)體可讀介質(zhì)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8的系統(tǒng),還包括網(wǎng)絡(luò)連接,其使得能夠訪問制造所述半導(dǎo)體封裝體的制造廠中的數(shù)據(jù)庫。
11.根據(jù)權(quán)利要求8的系統(tǒng),還包括網(wǎng)絡(luò)連接,其使得能夠訪問制造所述半導(dǎo)體封裝體的制造廠之外的數(shù)據(jù)庫。
12.根據(jù)權(quán)利要求8的系統(tǒng),其中,在所述計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)上存儲的信息使得能夠標(biāo)識并隔離第一組半導(dǎo)體裝置,且所述第一組半導(dǎo)體裝置表現(xiàn)得比第二組半導(dǎo)體裝置更好。
13.根據(jù)權(quán)利要求8的系統(tǒng),還包括與處理所述半導(dǎo)體裝置的工具相關(guān)聯(lián)的多個掃描器,所述掃描器掃描所述半導(dǎo)體裝置上的唯一碼,使得與所述工具相關(guān)的信息能夠與所述半導(dǎo)體裝置相關(guān)聯(lián)地存儲。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





