[發(fā)明專利]一種質(zhì)量校準(zhǔn)物離子化與引入裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410192978.2
• 申請日: 2014-05-08
• 公開（公告）號: CN105097412A
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王睿;張小強;沈嘉祺;金嶠;孫文劍
• 申請（專利權(quán)）人: 島津分析技術(shù)研發(fā)（上海）有限公司
• 主分類號: H01J49/06
• 分類號: H01J49/06;H01J49/10
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所 31219
• 代理人: 余明偉

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及質(zhì)量分析技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種質(zhì)量校準(zhǔn)離子化與引入裝置。

背景技術(shù)

一般人們在對質(zhì)譜儀進行質(zhì)量校準(zhǔn)的時候，都采用外標(biāo)法或者內(nèi)標(biāo)法引入質(zhì)量校準(zhǔn)物。其中外標(biāo)法是將分析物和質(zhì)量校準(zhǔn)物在不同時間分別引入質(zhì)譜儀。而內(nèi)標(biāo)法則是將分析物和質(zhì)量校準(zhǔn)物混合成一種溶液同時引入質(zhì)譜儀。內(nèi)標(biāo)法相比于外標(biāo)法的優(yōu)勢在于，能消除儀器在不同時間運行時所帶來的波動。但是內(nèi)標(biāo)法的缺點是分析物和質(zhì)量校準(zhǔn)物必須混合在一起后引入質(zhì)譜儀。這樣在分析物和質(zhì)量校準(zhǔn)物離子化的過程中，兩者會互相產(chǎn)生離子化抑制，干擾等相應(yīng)的負面作用，影響分析物本身的質(zhì)譜檢測。

現(xiàn)今人們研發(fā)了一些質(zhì)量校準(zhǔn)物離子化和引入裝置，改善了內(nèi)標(biāo)法和外標(biāo)法自身的缺點。比如人們將質(zhì)量校準(zhǔn)物和分析物的離子源分開，減少兩者之間同時混合進樣所帶來的互相干擾。

例如美國專利US6410915B1就是將多個電噴霧或者其他大氣壓下的離子源放置在質(zhì)譜儀進口。質(zhì)譜儀的真空接口裝置可以選擇性地對準(zhǔn)所使用的離子源，從而起到質(zhì)量校準(zhǔn)物與分析物分開離子化并引入的作用。

類似的專利還有美國專利US6657191，US6541768B2，US6501073B1，US7399961B2以及US6784422B2等。這些專利都采用了多個大氣壓下的離子源，從而將質(zhì)量校準(zhǔn)物和分析物有效地分開進行離子化并引入質(zhì)譜儀。但是在這些專利中質(zhì)量校準(zhǔn)物和分析物引入質(zhì)譜儀的都是同一個真空接口裝置，這樣不可避免會產(chǎn)生質(zhì)量校準(zhǔn)物在真空接口部分的污染，從而給分析物的檢測帶來相應(yīng)的基質(zhì)效應(yīng)，影響了分析物的檢測靈敏度與檢測限。并且在這些發(fā)明技術(shù)中，質(zhì)量校準(zhǔn)物和分析物的離子源都處在相鄰的位置區(qū)域甚至在同一預(yù)設(shè)腔室內(nèi)。這樣很容易產(chǎn)生離子源之間的電場、氣流等相互干擾問題，從而影響了質(zhì)譜儀檢測的穩(wěn)定性。

雖然如美國專利US6465776B1，采用了多通道的真空接口裝置方式，將來自不同電噴霧離子源的樣品通過不同的真空接口裝置引入質(zhì)譜儀。這樣避免了不同樣品對真空接口裝置的污染問題。但是由于這些真空接口裝置都是集成在一個總真空接口裝置內(nèi)的，而各個電噴霧離子源必須與其相應(yīng)的接口相鄰，因此各個電噴霧離子源在物理距離上還是必須相鄰的。這樣無法解決分析物離子源與質(zhì)量校準(zhǔn)物離子源之間相互干擾的問題。而且該發(fā)明也僅僅局限于電噴霧離子源，并沒有考慮到不能用于電噴霧電離的分子，比如非極性分子，對于可分析的樣品有一定局限性。

基于以上因素考慮，人們通過將分析物和質(zhì)量校準(zhǔn)物的離子源從物理距離上分離開的方法，解決了相鄰大氣壓下的離子源之間相互干擾的問題。比如美國專利US7385190B2，US7679053B2和中國專利公開號CN100429518C，以及在AnalyticalChemistry雜志刊登的文獻(Anal.Chem.2007，79，5711-5718)，都是通過將分析物和質(zhì)量校準(zhǔn)物的離子源拉開一定距離，然后通過氣流導(dǎo)引或者將作為真空接口裝置的進樣毛細管末端匯合的方式將分析物和質(zhì)量校準(zhǔn)物引入到質(zhì)譜儀內(nèi)。但是這些發(fā)明技術(shù)的缺點在于質(zhì)量校準(zhǔn)物和分析物最后仍然需要通過匯合在一起的進樣毛細管進入到質(zhì)譜儀中。這樣始終無法解決質(zhì)量校準(zhǔn)物會給分析物檢測帶來的基質(zhì)效應(yīng)。

另，如美國專利US6797947B2，6649909B2以及英國專利GB2443219，利用了一些可在真空條件下進行離子化的方式，將質(zhì)量校準(zhǔn)物通過氣流導(dǎo)引方式直接帶到離子聚焦裝置內(nèi)進行離子化。這個方式是可以避免質(zhì)量校準(zhǔn)物對分析物產(chǎn)生的基質(zhì)效應(yīng)。但是同時也會給離子聚焦裝置帶來較嚴(yán)重的污染。并且可在較高真空環(huán)境下進行離子化的樣品是非常有限的。因為質(zhì)量校準(zhǔn)物需要氣化后隨著氣流導(dǎo)引進入離子聚焦裝置進行離子化。這樣對于一些不易氣化的樣品，比如多肽化合物，蛋白質(zhì)等就無法使用此種方法。這樣可適用的質(zhì)量校準(zhǔn)物就非常有限。此外，由于質(zhì)量校準(zhǔn)物的離子源就在離子聚焦裝置附近，這樣也會對分析物離子的導(dǎo)引與檢測產(chǎn)生干擾。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種質(zhì)量校準(zhǔn)物離子化與引入裝置，以解決上述質(zhì)譜儀中質(zhì)量校準(zhǔn)物對于質(zhì)譜儀后級的污染，對于分析物檢測的基質(zhì)效應(yīng)，還有離子源之間的相互干擾問題。