[發(fā)明專利]一種檢測(cè)裝置和方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410189782.8 | 申請(qǐng)日: | 2014-05-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103968759A | 公開(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姚化禮;許朝欽;羅麗平;孫增標(biāo);慕紹帥;劉會(huì)雙 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00;G01B11/14 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
1.一種檢測(cè)裝置,其特征在于,所述檢測(cè)裝置包括:光源、第一影像信息獲取設(shè)備、第一電荷耦合器件CCD和第一分光片,其中:
所述光源,用于發(fā)出第一光信號(hào),為所述基板提供光亮;
所述第一影像信息獲取設(shè)備位于所述基板上的第一ID圖形的上方,用于將接收到的所述光源發(fā)射的所述第一光信號(hào)發(fā)射至所述基板,并獲取所述第一光信號(hào)發(fā)射到所述基板上的所述第一ID圖像的邊沿和所述基板的邊沿產(chǎn)生的第一圖像光信號(hào),并將所述第一圖像光信號(hào)發(fā)射至所述第一分光片;
所述第一分光片,用于將所述第一圖像光信號(hào)發(fā)射至所述第一CCD;
所述第一CCD,用于對(duì)接收到的所述第一圖像光信號(hào)進(jìn)行波峰分析,得到所述基板上的所述第一ID圖形的邊沿與所述基板的邊沿之間的距離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:第一反光鏡,其中:
所述第一反光鏡,用于將所述光源發(fā)出的所述第一光信號(hào)反射至所述第一分光片,同時(shí)濾除所述第一光信號(hào)中的干擾光信號(hào);
所述第一分光片,還用于將接收到的所述第一光信號(hào)發(fā)射至所述第一影像信息獲取設(shè)備。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:第二分光片、第三分光片、第二影像信息獲取設(shè)備和第二電荷耦合器件CCD,其中:
所述第二分光片,用于將所述光源發(fā)出的所述光信號(hào)分為兩束光信號(hào):第一光信號(hào)和第二光信號(hào),并將所述第二光信號(hào)發(fā)射至所述第三分光片;
所述第三分光片,用于將所述第二光信號(hào)發(fā)射至所述第二影像信息獲取設(shè)備;
所述第二影像信息獲取設(shè)備位于所述基板上的第二ID圖形的上方,用于將接收到的所述第二光信號(hào)發(fā)射至所述基板,并獲取所述第二光信號(hào)發(fā)射到所述基板上的所述第二ID圖像的邊沿和所述基板的邊沿產(chǎn)生的第二圖像光信號(hào),并將所述第二圖像光信號(hào)發(fā)射至所述第三分光片;
所述第三分光片,還用于將所述第二圖像光信號(hào)發(fā)射至所述第二CCD;
所述第二CCD用于對(duì)接收到的所述第二圖像光信號(hào)進(jìn)行波峰分析,得到所述基板上的所述第二ID圖形的邊沿與所述基板的邊沿之間的距離。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:第二反光鏡,其中:
所述第二反光鏡,用于將所述第二光信號(hào)反射至所述第三分光片,同時(shí)濾除所述第二光信號(hào)中的干擾光信號(hào)。
5.一種檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括:
通過所述光源發(fā)射第一光信號(hào)至第一影像信息獲取設(shè)備;
通過第一影像信息獲取設(shè)備將接收到的所述光源發(fā)出的所述第一光信號(hào)發(fā)射至所述基板,并獲取所述第一光信號(hào)發(fā)射到所述基板的第一ID圖像的邊沿和所述基板的邊沿而產(chǎn)生的第一圖像光信號(hào),并通過所述第一影像信息獲取設(shè)備經(jīng)所述第一圖像光信號(hào)發(fā)射至所述第一分光片;
通過所述第一分光片將所述第一圖像光信號(hào)發(fā)射至所述第一CCD;
通過所述第一CCD分析接收到的所述第一圖像光信號(hào),計(jì)算所呈現(xiàn)的兩個(gè)波峰值之間的差值,如果所述差值大于預(yù)設(shè)閾值,則返回異常信息至終端。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
通過第一反光鏡濾除所述第一光信號(hào)中的干擾光信號(hào),并將所述第一光信號(hào)發(fā)射至第一分光片;
通過所述第一分光片將所述第一反光鏡發(fā)射的所述第一光信號(hào)發(fā)射至所述第一影像信息獲取設(shè)備。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
通過第二分光片產(chǎn)生所述第一光信號(hào)和第二光信號(hào);
通過所述第三分光片反射所述第二光信號(hào)至第二影像信息獲取設(shè)備;
通過所述第二影像信息獲取設(shè)備將接收到的所述第二光信號(hào)發(fā)射至所述基板,并獲取所述第二光信號(hào)發(fā)射到所述基板的第二ID圖像的邊沿和所述基板的邊沿而產(chǎn)生的第二圖像光信號(hào),并通過所述第二影像信息獲取設(shè)備將所述第二圖像光信號(hào)發(fā)射至所述第三分光片;
通過所述第三分光片將所述第二圖像光信號(hào)反射至所述第二CCD;
通過所述第二CCD分析接收到的所述第二圖像光信號(hào),計(jì)算所呈現(xiàn)的兩個(gè)波峰值之間的差值,如果所述差值大于所述預(yù)設(shè)閾值,則返回異常信息至終端。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
通過所述第二反光鏡濾除所述第二光信號(hào)中的干擾光信號(hào),并將所述第二光信號(hào)反射至所述第三分光片。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司,未經(jīng)京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410189782.8/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





