[發明專利]檢測模塊及其跳線裝置在審
| 申請號: | 201410188304.5 | 申請日: | 2014-05-06 |
| 公開(公告)號: | CN104977521A | 公開(公告)日: | 2015-10-14 |
| 發明(設計)人: | 林雨祥 | 申請(專利權)人: | 智邦科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 模塊 及其 跳線 裝置 | ||
技術領域
本發明是與電氣連接的結構設計有關;特別是指一種檢測模塊及在電性檢測時可斷開以及可自動回復的跳線裝置。
背景技術
一般來說,電子裝置的電路基板,電路布局中的部分線路通常會以預設的節點加以分隔,但另外焊接0奧姆電阻(又稱跳線)加以電性連接,以導接二節點兩端的電路。
而后,當工程人員要量測相關電氣特性(例如電流)時或者電子裝置故障時,檢測人員便會將對應的跳線解焊,并利用檢測裝置的探測件(如探針或探棒等)接抵于二節點上,進行此線路后續的檢測。當檢測完畢時,則必須重新將0奧姆電阻焊回,由此,以跳線的設置,在通常的運作下,維持電路連接的連貫,又保有對于特定節點進行檢測工作的彈性空間。
然而,上述解焊與重焊的作業不僅費工費時,在作業過程中,更容易有焊接點因溫度掌握不佳而導致脫落或是燒熔的情形發生。
發明內容
本發明的目的在于提供一種檢測模塊及其跳線裝置,除可達到導接電路的目的外,進一步能在進行檢測時,不需要解焊跳線,仍具有斷開電路的效果,而能有效地提升檢測的速度與效率,不會有接點損壞的情形發生。此跳線裝置可單獨使用或與檢測模塊配搭使用。
為實現上述目的,本發明提供的跳線裝置包含有一殼體以及二電傳導組件。其中,殼體以絕緣材質制成,并具有一容置空間以及二插孔,且二插孔與容置空間連通。二電傳導組件設置于容置空間中,且分別具有一導接部以及一受力部;二受力部分別位于容置空間中對應二插孔的位置上,而二導接部相互接抵。
由此,當一物體插入二插孔中而頂推二受力部時,二導接部相互分離,形成如同解焊跳線而分隔線路的效果,且物體與二插孔分離后,二導接部相互接抵,以維持線路的正常連接。
依據上述構思,本發明還提供有一種檢測模塊,是用以對一電路基板進行檢測,且電路基板上具有二接點;檢測模塊包括包含有一跳線裝置以及一檢測裝置。其中,跳線裝置設于電路基板上,且包含有一殼體以及二電傳導組件;殼體以絕緣材質制成,并具有一容置空間以及二插孔,且二插孔與容置空間連通;二電傳導組件是以導體制成,并設置于殼體的容置空間中,且分別與二接點電性連接;另外,二電傳導組件各具有一導接部以及一受力部,且二受力部分別位于容置空間中對應二插孔的位置上,而二導接部相互接抵,使二接點相互電性連接。
檢測裝置用以產生電訊號并具有二探測件,且二探測件是以導體制成;當二探測件分別插入二插孔中而頂推二受力部時,二導接部相互分離,且二探測件分別與二電傳導組件電性連接,使二接點相互電性分離,而電訊號則流經些探測件與些電傳導組件而傳至二接點;另外,二探測件與二插孔分離時,二導接部重新相互接抵,使二接點重新相互電性連接。
通過上述設計,跳線裝置除可達到導接電路的目的外,還能在進行電性檢測時,具有自動斷開電路與自動回復的效果,進而能有效地提升檢測的速度與效率,同時不會有接點損壞的情形發生。
附圖說明
圖1是本發明第一較佳實施例檢測模塊的立體圖。
圖2是圖1的檢測模塊的分解圖。
圖3是跳線裝置的結構圖。
圖4是跳線裝置與探測件結合時的結構圖。
圖5是本發明第二較佳實施例跳線裝置的結構圖。
圖6是本發明第三較佳實施例跳線裝置的結構圖。
圖7是本發明第四較佳實施例跳線裝置的結構圖。
附圖中主要組件符號說明:
10跳線裝置,12殼體,121容置空間,122插孔,123穿孔,124隔板,14電傳導組件,140支撐部,141受力部,142導接部,143墊部,16墊片,20檢測裝置,22檢測機,24探測件,25絕緣套,30跳線裝置,32殼體,322插孔,323穿孔,34電傳導組件,340支撐部,342導接部,36頂針,38彈簧,100電路基板,110接點,120接點,121孔。
具體實施方式
為能更清楚地說明本發明,舉較佳實施例并配合附圖作詳細說明。
請參閱圖1至圖2所示,為本發明一較佳實施例的檢測模塊,用以對一電路基板100進行檢測,且電路基板100上具有二接點110,且二接點110各別電性連接一電路布局(圖未示)。檢測模塊包括一跳線裝置10以及一檢測裝置20。
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