[發明專利]檢測模塊及其跳線裝置

在審

• 申請號: 201410188304.5
• 申請日: 2014-05-06
• 公開（公告）號: CN104977521A
• 公開（公告）日: 2015-10-14
• 發明（設計）人: 林雨祥
• 申請（專利權）人: 智邦科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 宋焰琴

1.一種跳線裝置，其特征在于，所述跳線裝置包括：

一殼體，以絕緣材質制成，并具有一容置空間、二穿孔以及二插孔，且所述二穿孔與所述二插孔與所述容置空間連通；以及

二電傳導組件，以導體制成，并設置于所述容置空間中，且分別具有一支撐部、一導接部以及一受力部；所述二受力部分別位于所述容置空間中對應所述二插孔的位置上，所述二支撐部分別設置于所述容置空間中對應所述二穿孔的位置上，所述受力部分別電性連接所述支撐部與所述導接部，而所述二導接部相互接抵；

當一物體插入所述二插孔中而頂推所述二受力部偏移時，所述二導接部相互分離，且所述物體抽離所述二插孔后，所述二導接部恢復相互接抵。

2.根據權利要求1所述的跳線裝置，其特征在于，各所述電傳導組件包含有一彈性傳導部，一端連接所述支撐部，另一端連接所述受力部，使所述受力部通過所述彈性傳導部電性連接所述支撐部，并各別提供一彈力推抵對應的各所述受力部，使所述二導接部相互接抵。

3.根據權利要求1所述的跳線裝置，其特征在于，各所述電傳導組件包含有一墊部，所述二墊部則設于所述殼體上對應所述二穿孔處。

4.根據權利要求1所述的跳線裝置，其特征在于，所述二電傳導組件的一端各別穿過各所述穿孔而凸伸至所述殼體外。

5.根據權利要求1所述的跳線裝置，其特征在于，包含有二墊片，以導體材質制成，所述二墊片則設于所述殼體上對應所述二穿孔處；所述二電傳導組件分別與所述二墊片連接。

6.根據權利要求1所述的跳線裝置，其特征在于，包含有二頂針，以導體制成，所述二頂針則設于所述殼體上對應所述二穿孔處；所述二電傳導組件分別穿過所述二穿孔并與所述二頂針連接。

7.根據權利要求1所述的跳線裝置，其特征在于，所述殼體包含有一隔板，設置于所述容置空間中，且位于所述二插孔間。

8.一種檢測模塊，用以對一電路基板進行檢測，且所述電路基板上具有二接點；其特征在于，所述所述檢測模塊包括：

一跳線裝置，設于所述電路基板上，且包含有一殼體以及二電傳導組件；所述殼體以絕緣材質制成，并具有一容置空間、二穿孔以及二插孔，且所述二穿孔與所述二插孔與所述容置空間連通；所述二電傳導組件是以導體制成，并設置于所述殼體的容置空間中；所述二電傳導組件各具有一支撐部、一導接部以及一受力部，且所述二受力部分別位于所述容置空間中對應所述二插孔的位置上，所述二支撐部分別設置于所述容置空間中對應所述二穿孔的位置上分別與所述二接點電性連接，且所述受力部分別電性連接所述支撐部與所述導接部，而所述二導接部相互接抵，使所述二接點相互電性連接；以及

一檢測裝置，用以產生電訊號并具有二探測件，且所述二探測件是以導體制成；當所述二探測件分別插入所述二插孔中而頂推所述二受力部時，所述二導接部相互分離，使所述二接點相互電性分離，且所述二探測件分別與所述二電傳導組件電性連接，而所述電訊號則流經所述些探測件與所述些電傳導組件而傳至所述二接點；另外，所述二探測件與所述二插孔分離時，所述二導接部重新相互接抵，使所述二接點重新相互電性連接。

9.根據權利要求8所述的檢測模塊，其特征在于，所述殼體包含有一隔板，設置于所述容置空間中，且位于所述二插孔間。

10.根據權利要求8所述的檢測模塊，其特征在于，各所述電傳導組件包含有一彈性傳導部，一端連接所述支撐部，另一端連接所述受力部，使所述受力部通過所述彈性傳導部電性連接所述支撐部，并各別提供一彈力推抵對應的各所述受力部，使所述二導接部相互接抵。